1.可測量電鍍、蒸鍍、離子鍍等各種金屬鍍層的厚度。
2.可通過CCD攝像機來觀察及選擇微小面積以進行鍍層厚度的測量,避免直接接觸或破壞被測物。
3.備有250個以上的鍍層厚度測量和成分分析時所需的標準樣品。
一．韓國Micro Pioneer XRF-2000 系列X射線測厚儀(全新原裝進口)
XRF2000能提供金屬鍍層厚度的測量，同時可對電鍍液進行分析，不單性能優越,而且價錢超值，同比其他牌子相同配置的機器，XRF2000為您大大節省成本。只需數秒鐘,便能非破壞性地得到準確的測量結果，甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任。全自動XYZ樣品臺，鐳射自動對焦系統，十字線自動調整。超大/開放式的樣品臺，可測量較大的產品。是線路板、五金電鍍、首飾、端子等行業的首選。可測量各類金屬層、合金層厚度等。
可測元素范圍：鈦(Ti) – 鈾(U) 原子序 22 – 92 。
準直器：固定種類大小:可選圓形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型1×0.4mm
自動種類大小:可選圓形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型0.05×0.4mm
電腦系統：DELL品牌電腦,17寸液晶顯示器，惠普彩色打印機
綜合性能:鍍層分析 定性分析 定量分析 鍍液分析 統計功能
