IC卡動態(tài)彎扭試驗機

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HY(IC)IC卡動態(tài)彎扭試驗機技 術 參 數(shù):  
本儀器針對性IC卡在國標GB/T 16649.1，國標GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998國際標準等試驗標準中的彎曲、扭矩的試驗; 完全符合以上標準。
外形尺寸：L670 X W380 X H220
儀器重量：70kg
電 壓：AC220V±5%
功 率：35W
測試速度：彎曲 扭曲30r/min及0.5Hz
測試周期：1~9999次 
扭曲度 ：±15°±1° 雙向d=86 mm
正反向各15°，總扭曲角度30°
長邊最大位移量為20mm(+0.00mm,-1 mm)
長邊最小位移量為2mm±0.50mm，
短邊最大位移量為10mm(+0.00mm,-1 mm)
長邊最小位移量為1mm±0.50mm，
夾具安裝尺寸完全按照國家標準執(zhí)行。

3、產(chǎn)品用途：
    用于檢測磁條卡，IC芯片卡，集成電路卡，等卡的彎曲和扭曲性能測試。

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