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美國(guó)Calmetrics XRF鍍層標(biāo)準(zhǔn)片
每片厚度均通過美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)研究院（National Institute of Standards and Technology，NIST）鑒定機(jī)構(gòu)認(rèn)證（有證書）,其專門為儀器大廠如Fischer、Oxford、Thermo、Veeco、Micro Pioneer、Seiko等生產(chǎn)制作標(biāo)準(zhǔn)樣品。
XRF鍍層標(biāo)準(zhǔn)片又名膜厚儀校準(zhǔn)片，專業(yè)用于X射線測(cè)厚儀（膜厚儀）在測(cè)金屬鍍層厚度時(shí)進(jìn)行的標(biāo)準(zhǔn)化校準(zhǔn)及建立測(cè)試檔案。也就是我們?cè)谀ず駵y(cè)試中常用的標(biāo)準(zhǔn)曲線法，是測(cè)量已知厚度或組成的標(biāo)準(zhǔn)樣品，根據(jù)熒光X-射線的能量強(qiáng)度及相應(yīng)鍍層厚度的對(duì)應(yīng)關(guān)系，來得到標(biāo)準(zhǔn)曲線。之后以此標(biāo)準(zhǔn)曲線來測(cè)量未知樣品，以得到鍍層厚度或組成比率。對(duì)于PCB、五金電鍍和半導(dǎo)體等行業(yè)使用測(cè)厚儀來檢測(cè)品質(zhì)和控制成本起到了很重要的作用。
薄片類型：（以下為常規(guī)厚度，上海益朗儀器有限公司 http://www.shylyq.com 接受非標(biāo)定做）
量測(cè)成份： |
厚度值（單位：μm） |
ALUMINUM (Al) |
1.00、3.00、5.00、12.5 |
CADMIUM (Cd) |
1.00、2.00、5.00、10.0、15.0 |
CHROMIUM (Cr) |
0.05、0.10、0.25、0.50、1.00、2.00、5.00、10.0 |
COBALT (Co) |
0.05、0.10、0.25、0.50、1.00、2.00、3.00 |
COPPER (Cu) |
0.10、0.25、0.50、1.00、2.00、5.00、10.0、20.0、35.0 |
GOLD (Au) |
0.05、0.10、0.25、0.50、1.00、2.00、3.00、5.00 |
IRON (Fe) |
2.00、6.00 |
LEAD (Pb) |
0.25、1.00、2.00、4.00、9.00 |
NICKEL (Ni) |
0.10、0.25、0.50、1.00、2.00、2.50、3.00、5.00、8.00、10.0、20.0、27.5 |
NICKEL-PHOSPHORUS (Ni-P, 8% P) |
2.50、6.00、9.00、18.0 |
PALLADIUM (Pd) |
0.10、0.25、0.50、1.00、2.00、3.00、5.00 |
PLATINUM (Pt) |
0.50、1.00 |
SILVER (Ag) |
0.10、0.25、1.00、2.00、5.00、10.0、20.0、30.0 |
SOLDER (Sn-Pb) |
5.00、6.00、10.0、14.0（60%Sn）5.00、6.00、14.0（90%Sn） |
TIN (Sn) |
0.10、0.25、0.50、1.00、2.00、5.00、10.0、20.0、40.0、60.0 |
TITANIUM (Ti) |
0.50、1.00、5.00、10.0 |
ZINC (Zn) |
2.50、10.0、20.0 |
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