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X射線熒光光譜法
X射線熒光光譜法大多數用來測定金屬元素,也是一種常見的金屬材料成分測定方法。其測試原理是:基態的原子在沒有被激發狀態下會處于低能態,而一旦被一定頻率的輻射線激發就會變成高能態,高能狀態下會發射熒光,這種熒光的波長非常特殊,測定出這些X射線熒光光譜線的波長就可以測定出樣品的元素種類。把標準樣品的譜線強度作為參照比較被測樣品的譜線,即可以測出元素的含量。該方法是定性半定量的方法,在金屬成分分析中主要作為大概含量的確定。