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GE/KK帶可更換保護膜的接觸法探頭K1S探傷儀探頭
GE/KK接觸式探頭的選擇標準：K1S探傷儀探頭-主要特性：
如果沒有關于合適的探頭的確定的概念，那么下面可以推薦一些標準以便參考：
首先，要決定選用單探頭還是TR探頭，如果要探測近表面的缺陷，那TR探頭更合適些。
其次，就是根據預期的缺陷位置決定使用直探頭還是斜探頭。
由于大反射物的鏡面聲波反射現象，聲波束應該垂直入射到反射物表面。當頻率增加時，這一點必須要特別注意。
第三，就是考慮遠場分辨率（回波寬度）。
最后，借助于表中給出的數值和給出的探頭類別選擇，可依據尺寸、頻率、波諧和工作量程等選擇最合適的探頭。
K1S探傷儀探頭-主要應用領域
通常：用于容積形或者平等于表面的缺陷的探測和評估。可互換的抗磨損的保護膜可以使得探頭在粗糙或者彎曲的表面也達到盡可能好的耦合，并防止探頭受損。 B..SL：
探頭型號有：B0.5SL B1SL B2SL
用于測試這樣一類中等尺寸和大尺寸物體，它們由于具有長的聲程（例如大的鍛件或球墨鑄鐵）而會導致大的聲波衰減。它們也適合用于測試具有強的聲波吸收特性的塑料（例如尼龍、特氟龍、聚丙烯），為增加靈敏度和分辨率，可以將保護膜去掉。
K..S，K..SM，K..SC和MK..S(粗晶探頭)：
探頭型號有：K0.5S、K1S、K0.5SM、K1SM、K1SC、K2SC、MK1S、MK2S、MK4S
用于測試這樣一類的中等尺寸和大尺寸物體，它們的材料會通過聲波的散射作用（例如灰口鑄鐵、非鐵重金屬材料或者塑料合成材料等制成的物體）而導致高的聲波衰減。
它們也可以用于測試材料的物理特性（例如建筑材料、巖芯和半導體材料的特性）。
B..S和MB..S：
探頭型號有：B1S、B2S、B4S、B5S、MB2S、MB4S、MB5S
這類探頭的公差分布范圍窄，對目前大多數的測試任務來說（例如平板物、條狀物和方形輪廓物體的測試，以及窗口和螺釘、螺孔和外殼等的測試），可以達到最高的精度要求。對于由多種材料（例如所有的金屬材料、玻璃、瓷器、陶瓷和塑料）構成的開關簡單的部件的測試也可以達到高精度要求。
  B..S和MB..S： 探頭型號有：B1S、B2S、B4S、B5S、MB2S、MB4S、MB5S 這類探頭的公差分布范圍窄，對目前大多數的測試任務來說（例如平板物、條狀物和方形輪廓物體的測試，以及窗口和螺釘、螺孔和外殼等的測試），可以達到最高的精度要求。對于由多種材料（例如所有的金屬材料、玻璃、瓷器、陶瓷和塑料）構成的開關簡單的部件的測試也可以達到高精度要求。 美國GE、德國KK公司 單晶直探頭型號如下：
探頭詳細信息請致電：0755-22325800,22325920咨詢了解！ |
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