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供OTSUKA 高功能范圍分光光譜儀 MCPD-9800上海/揚州/蘇州/無錫/南京/天津/北京/武漢/西安/杭州/濟南/廣州/合肥/鎮江/常州/南通等地
產品特色：
1.亮部至暗部的曝光細節，極致的高動態范圍檢出能力，最適用于光通量評價。2.低迷光對應，最適合UV評價。相較于相同系列機型，迷光率僅約五分之一!3.最短5msec~65sec*1的曝光時間。4.特殊方式纏繞的光纖設計，展現更優異的量測再現性。5.輕量化設計，相較于同系列機型，減少約40%的體積與重量。
相關產品：
量測項目：
發光光譜量測 |
穿透率、吸收率光譜量測 |
反射率光譜量測 |
熒光量測 |
物體色量測 |
光源色量測（色度、輝度、照度） |
膜厚量測 |
規格樣式：
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3683C |
311C |
2480C |
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波長范圍 |
360 ~ 830 nm |
360 ~ 1100 nm |
240 ~ 800 nm |
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分光元件 |
光柵分光， F=3，f=85.8mm |
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感光元件 |
CCD影像傳感器(電子冷卻) |
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512ch |
1024ch |
512ch |
1024ch |
512ch |
1024ch |
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解析能力 |
1.0nm |
0.5nm |
1.6nm |
0.8nm |
1.2nm |
0.6nm |
光纖規格 |
石英制光纖，金屬包覆，固定口徑∮12mm，長約2m |
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量測功能 |
發光光譜，穿透率、吸收率光譜，反射率光譜 |
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尺寸重量 |
110（W） x 230（H） x 282（D）mm ，約6kg |
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應用范圍：
發光光譜分析儀系統
反射光譜分析儀系統
穿透、吸收光譜分析儀系統
色度光譜分析儀系統
光源光譜分析儀系統（色度/輝度/照度）
膜厚光譜分析儀系統
熒光光譜分析儀系統
雙折射相位差光譜分析儀
微光學元件光譜分析儀系統
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具體型號及技術要求歡迎來電咨詢。
聯系方式：
NOVTEC--LED測試方案解決專家
蘇州諾威特測控科技有限公司
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聯系人：夏雨
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