獨創的成像和照明光學系統設計，使它有更好的對比度和景深。與CS型或C型CCD(CMOS)攝像頭、顯示器、計算機連接，適用于電子設備、半導體、LCD、LED等領域的數碼成像觀察、檢測和測量，特別是低反射率物體（如平面印刷，LCD缺陷）的檢測。

主要技術規格：