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當前位置: 首頁 » 供應產品 » 設備 » 涂裝設備 »MiniTest1100涂層測厚儀+F1.6探頭

MiniTest1100涂層測厚儀+F1.6探頭

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產品價格: 28000/人民幣 
最后更新: 2012-08-12 10:56:19
產品產地: 德國
發貨地: 上海 (發貨期:當天內發貨)
供應數量: 不限
有效期: 長期有效
最少起訂: 1
瀏覽次數: 306
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  • 公司基本資料信息
  •  
    產品詳細說明
     

    產品特點

    • MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機,各自具有不同的數據處理功能;
    • 所有型號均可配所有探頭;
    • 可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機;
    • 可使用一片或二片標準箔校準。

    技術參數

    型號

    1100

    2100

    3100

    4100

    MINITEST 存儲的數據量

    應用行數(根據不同探頭或測試條件而記憶的校準基礎數據數)

    1

    1

    10

    99

    每個應用行下的組(BATCH)數(對組內數據自動統計計算,并可設寬容度極限值)

    -

    1

    10

    99

    可用各自的日期和時間標識特性的組數

    -

    1

    500

    500

    數據總量

    1

    10000

    10000

    10000

    MINITEST統計計算功能

    讀數的六種統計值x,s,n,max,min,kvar

    -

    讀數的八種統計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk

    -

    -

    組統計值六種x,s,n,max,min,kvar

    -

    -

    組統計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk

    -

    -

    存儲顯示每一個應用行下的所有組內數據

    -

    -

    -

    分組打印以上顯示和存儲的數據和統計值

    -

    -

    顯示并打印測量值、打印的日期和時間

    -

    其他功能

    設置極限值

    -

    -

    連續測量模式快速測量,通過模擬柱識別最大最小值

    -

    -

    連續測量模式中測量穩定后顯示讀數

    -

    -

    連續測量模式中顯示最小值

    -

    -

    MiniTest涂層測厚儀可選探頭參數

      所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇最適用的探頭時需要考慮覆層厚度,基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
      F型探頭:測量鋼鐵基體上的非磁性覆層
      N型探頭:測量有色金屬基體上的絕緣覆層
      FN兩用探頭:同時具備F型和N性探頭的功能

    探頭

    量程

    低端分辨率

    誤差

    最小曲率半徑

    最小測量區域直徑

    最小基體厚度

    探頭尺寸
    (mm)




    F05

    0-500um

    0.1um

    ±(1%±0.7um)

    1/5mm

    3mm

    0.2mm

    φ15x62

    F1.6

    0-1600um

    0.1um

    ±(1%±1um)

    1.5/10mm

    5mm

    0.5mm

    φ15x62

    F1.6/90

    0-1600um

    0.1um

    ±(1%±1um)

    平面/6mm

    5mm

    0.5mm

    φ8x8x170

    F2/90

    0-2000um

    0.2um

    ±(1%±1um)

    平面/6mm

    5mm

    0.5mm

    φ8x8x170

    F3

    0-3000um

    0.2um

    ±(1%±1um)

    1.5/10mm

    5mm

    0.5mm

    φ15x62

    F10

    0-10mm

    5um

    ±(1%±10um)

    5/16mm

    20mm

    1mm

    φ25x46

    F20

    0-20mm

    10um

    ±(1%±10um)

    10/30mm

    40mm

    2mm

    φ40x66

    F50

    0-50mm

    10um

    ±(3%±50um)

    50/200mm

    300mm

    2mm

    φ45x70


    FN1.6

    0-1600um

    0.1um

    ±(1%±1um)

    1.5/10mm

    5mm

    F0.5mm/N50um

    φ15x62

    FN1.6P

    0-1600um

    0.1um

    ±(1%±1um)

    平面

    30mm

    F0.5mm/N50um

    φ21x89

    FN2

    0-2000um

    0.2um

    ±(1%±1um)

    1.5/10mm

    5mm

    F0.5mm/N50um

    φ15x62




    N02

    0-200um

    0.1um

    ±(1%±0.5um)

    1/10mm

    2mm

    50um

    φ16x70

    N.08Cr

    0-80um

    0.1um

    ±(1%±1um)

    2.5mm

    2mm

    100um

    φ15x62

    N1.6

    0-1600um

    0.1um

    ±(1%±1um)

    1.5/10mm

    2mm

    50um

    φ15x62

    N1.6/90

    0-1600um

    0.1um

    ±(1%±1um)

    平面/10mm

    5mm

    50um

    φ13x13x170

    N2

    0-2000um

    0.2um

    ±(1%±1um)

    1.5/10mm

    5mm

    50um

    φ15x62

    N2/90

    0-2000um

    0.2um

    ±(1%±1um)

    平面/10mm

    5mm

    50um

    φ13x13x170

    N10

    0-10mm

    10um

    ±(1%±25um)

    25/100mm

    50mm

    50um

    φ60x50

    N20

    0-20mm

    10um

    ±(1%±50um)

    25/100mm

    70mm

    50um

    φ65x75

    N100

    0-100mm

    100um

    ±(1%±0.3mm)

    100mm/平面

    200mm

    50um

    φ126x155

    CN02

    10-200um

    0.2um

    ±(1%±1um)

    平面

    7mm

    無限制

    φ17x80

    注:

    F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭,用于管內測量。
    N.08Cr適合銅上鉻,FN2也適合銅上鉻。
    CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。

    MiniTest涂層測厚儀探頭圖示

    FN1.6

    0~1600μm,φ5mm
    兩用測頭,可測銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬基體上的絕緣覆層量程低端分辨率很高(O.1μm)

    FN1.6P

    0~1600μm,φ30mm
    兩用測頭,特別適合測粉末狀的覆層厚度

    FN2

    0~2000μm,φ5mm
    兩用測頭,可測銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬基體上的絕緣覆層

    F05

    0~500μm,φ3mm
    磁性測頭,適于測量細小鋼鐵物體的薄覆層,如金屬鍍層,氧化層等
    量程低端分辨宰很高(O.1μm)

    F1.6

    0~1600μm,φ5mm
    磁性測頭量程低端分辨率很高(O.1μm)

    F3

    0~3000μm,φ5mm
    磁性測頭可用于較厚的覆層

    F1.6/90

    0~1600μm,φ5mm
    90度磁性測頭,尤其適合于在管內壁測量量程低端分辨率很高(O.1μm)

    F2/90

    0~2000μm,φ5mm
    90度磁性測頭,尤其適合于在管內壁測量

    F10

    0~10mm,φ20mm
    適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層,如玻璃、塑膠、混凝土等

    F20

    0~20mm,φ40mm
    適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層,如玻璃、塑膠、混凝土等

    F50

    0~50mm,φ300mm
    適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層的隔音覆層

    N02

    0~200μm,φ2mm
    非磁性測頭,尤其適合測量有色金屬基體上的氧化層等很薄的絕緣覆層
    量程低端分辨率很高(O.1μm)

    N0.8Cr

    0~80μm,φ2mm
    適用于測量銅、鋁、黃銅上的極薄鍍鉻層

    N1.6

    0~1600μm,φ2mm
    非磁性測頭,適于測量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層
    量程低端分辨率很高(O.1μm)

    N2

    0~2000μm,φ5mm
    非磁性測頭,適于測量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層

    N1.6/90

    0~1600μm,φ5mm
    磁性測頭,適于測量較薄的絕緣覆層,尤其適合在管內壁測量量程低端分辨率很高(O.1μm)

    N2/90

    0~2000μm,φ5mm磁性測頭,尤其適合在管內壁測量

    N10

    0~10mm,φ50mm
    非磁性測頭,適于測量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等

    N20

    0~20mm,φ70mm
    非磁性測頭,適于測量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等

    N100

    0~100mm,200mm
    非磁性測頭,適于測量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等

    CN02

    10~200μm,φ7mm
    用于測量絕緣材料上的有色金屬覆層,如覆銅板


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