德國菲希爾Fischer X-RAY XDLX射線無損熒光鍍層厚度

無損膜厚儀、無損鍍層測厚儀、X射線鍍層測厚儀、熒光膜厚儀
德國菲希爾Fischer X-RAY XDL X射線無損熒光鍍層厚度測試儀

一、儀器介紹

     頻譜庫中允許創(chuàng)建從元素鈦至鈾的任何一種新的產品。能通過“應用工具箱"(由一個帶所有應用參數(shù)的軟盤和校準標準塊組成)使應用的校準簡單化畫中畫測試件查看和數(shù)據顯示，帶快速移動焦距功能放大試件圖像；計算機生成的刻度化的瞄準十字星，并有X-射線光束大小指示器(光束的大小取決于測量的距離，見背面)圖形化的用戶界面，測試件的圖像顯示可插入于測試報告中 對試件與視準器之間的距離進行視覺控制的校正(DCM方法)范圍可達80mm(3.2〞) 

典型的應用范圍如下： 

單一鍍層：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。 

二元合金層：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。 

三元合金層：例如Ni上的AuCdCu合金。

雙鍍層：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。 

雙鍍層，其中一個鍍層為合金層：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。 

最多24種鍍層（使用WinFTM® V.6軟件）。 

分析多達4種（或24種－使用V.6軟件）元素。

分析電鍍溶液中的金屬離子濃度。

測量模式用于： 

單、雙及三層鍍層系統(tǒng) 

雙元及三元合金鍍層的分析和厚度測量 

雙層鍍層，其中合金鍍層在外層或在中間層的厚度測量和分析(兩層的厚度和合金成分都能被測量) 

能分析多達四種金屬成分的合金，包括金的開數(shù)分析的特殊功能。

對電鍍溶液的分析能力可達包含一或二種陽離子的電鍍液。

三、技術參數(shù)：

1.Fischerscope X-RAY XDL是采用根據技術標準DIN50987，ISO3497和ASTM B568的X-射線熒光測試方法； 

2.原始射線從上至下； 

3.X-射線管高壓設定可調節(jié)至最佳的應用：50kV，40kV或30kV； 

4.單個0.3mm直徑(12 mils)的標準視準器，在附加費用的基礎上可選擇0.05×0.3 mm(2×12 mil)帶槽視準器；或直徑0.1mm;或直徑0.2mm；或0.4X0.4mm方形。 

5.測量箱外部尺寸：(高×寬×深)650 mm×570 mm×740 mm(26〞×22〞×29〞)，重量大約為105kg(120lbs)； 

6.帶槽箱體的內部尺寸：(高×寬×深)300 mm×460 mm×500 mm(12〞×18〞×20〞)帶向上回轉箱門； 

7.嵌入式固定的測試件支承板，需要時可移去以適用于大件的超出尺寸的測試工件。 

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