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磁性渦流無損涂鍍層膜層測厚儀,電解破壞式庫侖儀,X射線鍍層測厚儀
無損涂鍍層膜層測厚儀
德國Fischer簡介
德國Fischer成立于1953年,是世界上最早專業生產涂鍍層測厚儀器的廠家之一, 已有50多年對膜層厚度的經驗和知識。
儀器分類:
1、DUALSCOPE MPO
MP0是Fischer最為小巧并能最大程度滿足您測量需要的儀器。它測量精度高、界面友好且結實耐用。對不復雜工件的現場測量尤為理想。內置探頭,采用磁感應及電渦流方法,自動識別基材,可快速無損地測量涂鍍層厚度。由于有著出色的重復精度及統一標準的校準功能,使得這款儀器在同級別產品中無與倫比。
2、 FMP系列
FMP系列是手提式、無損涂鍍層測厚儀,能準確地測量涂鍍層的厚度,儀器采用電磁感應(DELTA)、電渦流感應(ISO)或是雙功能(DUAL)的原理來測量厚度。其新穎、堅固、簡易操作及可更換式的測量探頭的設計,使儀器廣泛在不同的應用中使用。
FMP10及FMP20是專業級測量儀器的初級版本,適合于重復同一應用程式的測量。
FMP30及FMP40附加了更強的數據處理功能,例如:更大的記憶及圖像顯示統計的資料。
3、型號:DUALSCOPE FMP100
FMP100是FMP系列中最先進及功能最強的型號,儀器是采用Windows CE為操作系統,屏幕是高解像及具備觸屏功能。測量原理包括電磁感應及電渦流感應。其附帶的統計及計算功能,FMP100是可以用圖像的形式來顯示測量及統計的數據,儀器內置了由菲希爾公司開發的品質控制軟件FDD軟件,可更加容易用清楚顯示統計資料,方便作出更佳的品質管理。
4、型號:PHASCOPE PMP10
PMP10是采用相位式電渦流感應法的測量方法,這是適合測量非鐵性鍍層在鋼材或非鐵性金屬底材上的厚度,甚至鎳層在鋼材上的厚度也可以測量。對在鐵上鍍鋅層、電路板的銅箔及孔銅壁的厚度測量亦十分理想。
PMP10 DUPLEX:再加上了可以在一次的測量中同時分來測量鋼板上鍍鋅層及油漆層的厚度,或是鋁上油漆層的厚度。
5、SIGMASCOPE SMP10
SMP10手提式儀器快速的,簡便的,現場的以及需要時非接觸式的測量非磁性金屬的電導率。為了電導率測量中的自動溫度補償,被測工件上的當前溫度既可以通過探頭ES40內置的溫度傳感器,也可以通過可選的外部傳感器測得。
其測量原理是使用渦電流感應,儀器適合測量一些非鐵性或非磁性的金屬,例如:鋁、銅、不銹鋼的導電率。
6、FISCHERSCOPE MMS系列
MMS是一款簡潔并極其通用的臺式多功能測量系統帶數據檔案和測量數據處理能力。可用于手工的樣品檢測,以及過程控制和生產過程中的晝夜監控。6種插入式測試模塊允許組合成許多不同的配置以滿足用戶需求。模塊化的設計允許儀器在以后進一步擴展測試方法。MMS系統可以配置多種Fischer智慧型探頭,以適用于各種不同幾何形狀和測量范圍的測試工件。
MMS PC2使用一臺儀器就可同時完成鍍層厚度測量和材料性能測試。具有數據采集和測量數據處理能力,是一臺結構小巧且適用范圍廣泛的多功能桌上測量系統。它既可以用來進行手動的樣品來料檢驗,也可以用于過程控制和對產品線進行24小時地監控。模塊設計也使得儀器的升級可以隨時隨地地進行。視實際需要,可以安裝類似或不同的模塊。
7、CORLOSCOPE CMS
CMS(庫侖測量系統)使用庫侖方法測量鍍層厚度。新的設計中配備了一個大的,易讀取的液晶顯示器,直觀的菜單指引系統,新的可以通過泵控制自動注液和清空測量槽的V18測量臺,以及SPC統計能力。該儀器理想的適用于測量幾乎所有的金屬基材或非金屬基材上的金屬鍍層的厚度,包括多鍍層。使用在不能進行或不需要進行非破壞性測試方法的場合。
CMS STEP是一種已定型很久的測試方法,用來測定多層鎳鍍層系統中各個單個的鍍層厚度,儀器高的電壓分辨率可以測量頂層為微孔鎳或微裂紋鎳與下層光亮鎳之間的電位,以及光亮鎳和半光亮鎳之間的電位。(若需要,還可以是光亮鎳和半光亮鎳之間的高的硫化鎳)各鍍層之間的電化學電位差。
8、FISCHERSCOPE X-RAY XUL系列
XUL系列是屬于小巧型的X-RAY熒光光譜儀,X-RAY熒光的發射與接收器都是裝置在儀器的底部,這樣的設計特別適合測量一些不同形狀及細小的樣品,不需要每次移動測量頭來對焦距。
XULM配備了微焦距的X-RAY管,測量點的面積會更小一點,適合測量一些更細小型五金零件的電鍍層厚度,儀器也配置了四個由馬達驅動的準直器來控制X-RAY光束的大小及可控制的三個基本濾片,這可使儀器調整至最佳的測量效果,此型號儀器特別適合的樣品:手表、珠寶、端子、也可測量電路板等等…
9、FISCHERSCOPE X-RAY XDL系列
由于使用了Fischer基本參數法,無論是固體的鍍層還是液體樣品,都能在沒有標準片的情況下進行準確分析和測量。最多可同時測量從氯(17)到鈾(92)中的24種元素。
XDL-2xx是設計用來測量一些比較大型五金樣品的電鍍厚度,也可測量電鍍槽內的金屬離子的含量,此型號的儀器主要用于防氧化保護金屬鍍層的厚度測量及一些在五金件中的裝飾性電鍍層,及一些特大的測量室,來滿足特大的品種及一些高低位相差比較大的工件所用。
XDLM是配備了一支微焦距的X-RAY射線管及采用比例計算器為接收器;用馬達驅動的4個不同大小準直器來控制測量點的大小,也可以選配XY(Z)軸的可編程位置自動測量桌,這對需要大量檢查是十分重要的,獨特的DCM方法(距離控制測量)自動地修正在不同的測量距離上光譜強度的差別,簡便了測量復雜幾何外形的測試工件和在不同測量距離上的測量。
XDAL系列的儀器是采用半導體硅二極管為接收器,此接收器可以在細小信號的情況下可以可靠地作出金屬微小成份及十分薄的鍍層厚度測量,由于可檢測元素范圍寬至從鋁到鈾,使得 XDAL 的應用范圍延伸至從工業到科學領域。
10、FISCHERSCOPE X-RAY XAN系列
XAN系列的X-RAY熒光光譜儀是采用半導體接收器,其X-RAY的發射及接收都是裝配置儀器測量室的底部,這樣便只需要簡單地放置樣品至測量室內X-RAY照射的光點中便可以直接測量了。
XAN-FD配備了一個快速的脈沖放大器,可提供高的次數率的放大信號。
XAN-DPP配備了一個數碼式的脈沖放大器,可以在沒有加長測量時間的情況下,提供更高的重復性及精確度。
XAN 120是特別設計給珠寶及貴金屬成份的測量。
11、FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SD
XDV-SD是特別適合測量一些十分薄的膜厚及十分微量成份的儀器。在電路板的膜厚測量、黃金的成色、及寶石的成份測量。儀器也可根據ROHS及WEEE條件的要求來進行篩選測量。
儀器配置一個高解像的半導體接收器,可以檢測的元素范圍由元素鋁AL(13)到元素鈾(92)。配合四個電動準直器、六個基本濾片及一個快速的可編程位置XY(Z)測量桌,這是對于電子及電鍍業中十分完美的裝備。
特殊應用儀器 |
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測量表面銅層厚度或線路板上銅孔厚度 |
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測量線路板上銅箔厚度 |
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鋼/鐵或不導電部件上的非鐵涂鍍層(如鋅) |
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非鐵部件上的非鐵金屬鍍層 |
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鋼或鐵上的電鍍鎳層 |
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道路混凝土厚度測量 |
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測量雙鍍層厚度(油漆/非鐵金屬/鐵) |
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測量非鐵金屬基材上不導電涂層厚度 |
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涂鍍層測厚儀根據測量原理一般有以下五種類型:
1.磁性測厚法:適用層磁材料上的非導磁層厚度測量。導磁材料一般為:鋼,鐵,銀,鎳。此種方法測量精度高。
2.渦流測厚法:適用導電金屬上的非導電層厚度測量。此種較磁性測厚法精度低。
3.超聲波測厚法:目前輛還沒有此種方法測量涂鍍層厚度的,國外個別廠家有這樣的儀器,適用多層涂鍍層厚度的測量或者是以上兩種方法都無法測量的場合。但一般價格昂貴,測量精度也不高。
4.電解測厚法:此方法有別于以上三種,不屬于無損檢測,需要破壞涂鍍層,一般精度也不高。測量起來比較其他幾種麻煩。
5.放射測厚法:此處儀器價格非常昂貴(一般在10萬RMB以上),適用于一些特殊場合。 國內目前使用最為普遍的是第1/2兩種方法。
涂鍍層厚儀
電解式測厚儀
機械接觸式測厚儀
超聲波測厚儀
薄膜測厚儀
在線測厚儀
X射線測厚儀
手持式:DualScope® MP0、FMP10-40、FMP100、PMP10
臺 式:FischerScope® MMS、MMS PC2
電解式:CoulScope® CMS、CMS STEP(多層鎳)
X射線:FischerScope® XUL、XDL、XAN等系列
行業應用:電子工業(FPC線路板、端子、引線框、連接器);汽車工業(汽車配件、表面噴漆烤漆、陽極氧化膜); 裝飾性鍍層(手表、珠寶首飾、眼鏡架);衛浴電鍍、五金電鍍、重工業、飛機及太空工業等。
DELTASCOPE FMP10、FMP30; ISOSCOPE FMP10、FMP30; DUALSCOPE FMP20、FMP40:FMP系列是手提式、無損涂鍍層測厚儀,采用電磁感應(DELTA)、電渦流感應(ISO)或是雙功能(DUAL)的原理來測量厚度。
DUALSCOPE MPO:方便及小巧MPO系列內置了雙功能測量探頭,使用電磁感應或電渦流感應法來進行非破壞式的涂鍍層厚度測量。
PHASCOPE PMP10:PMP10是采用相位式電渦流感應法的測量方法,適合測量非鐵性鍍層在鋼材或非鐵性金屬底材上的厚度,在鐵上鍍鋅層、電路板的銅箔及孔銅壁的厚度測量。
SIGMASCOPE SMP10:測量原理是使用渦電流感應,適合測量非鐵性或非磁性的金屬的電導率,例如:鋁、銅、不銹鋼的導電率。
CORLOSCOPE CMS:CMS儀器是采用庫侖式電解破壞的測量方法,差不多可準確測量所有的金屬鍍層的厚度。
FISCHERSCOPE X-RAY XUL :XUL系列是屬于小巧型的,可以用作鍍層厚度及物料分析測量,特別適合測量一些不同形狀及較小的樣品。
XULM是配備了微焦距的X-RAY管,測量點的面積更小,特別適合小五金零件的鍍層厚度測量,包括:端子、手表、珠寶、也可測量電路板等。
FISCHERSCOPE X-RAY XDL-2xx :XDL-2xx是設計用來測量比較大型五金樣品的電鍍厚度,主要用于衛浴產及在五金件中的電鍍層。
FISCHERSCOPE X-RAY XAN :XAN系列的X-RAY熒光光譜儀是采用半導體接收器,是一款適用于大批量材料分析。
XAN-FD配備了一個快速的脈沖放大器,可提供高的次數率的放大信號。
XAN-DPP配備了一個數碼式的脈沖放大器,提供更高的重復性及精確度。對ROHS 中5種有害物質Cr+6,Hg,Pb,Br和Cd的含量測量。
XAN 120是特別設計給珠寶及貴金屬成份的測量。它可以快速及無損地進行珠寶首飾及貴金屬的分析,例如:黃金、白金、鉑和銀器珠寶等的成份;在貴金屬上鍍鈀及鍍銠、硬幣以及所有的首飾合金和鍍層的厚度等。