新的MINITEST 700產(chǎn)品線，加強了德國EPK(Elektrophysik)公司在全球涂層測厚市場的領導地位。
-創(chuàng)新的SIDSP(探頭內(nèi)部數(shù)字信號處理)技術(shù)提升了測量的精確性
-測量范圍達15mm，可F、N或FN探頭，提供內(nèi)置或外接探頭
-FN探頭自動識別F(鐵磁性)或N(非磁性)基體，操作方便不易出錯
- SIDSP使測量不受干擾，測值更加精確
- 可更換探頭使用更加靈活(MINITEST 740探頭可由內(nèi)置換為外置)
- FN探頭自動識別基體，使測量更迅速，避免操作錯誤
- 溫度補償功能避免溫度變化引起的錯誤
- 生產(chǎn)過程中50點校準使儀器獲得高精確度的特征曲線
- 大存儲量，能存儲10或100組多達100,000個讀數(shù)
- 讀數(shù)和統(tǒng)計值能單獨調(diào)出
- 超大，背光顯示屏，顯示內(nèi)容可180度旋轉(zhuǎn)
- 菜單指引操作，25種語言可選
- 帶IrDA接口，紅外線傳輸數(shù)據(jù)到打印機和PC
- 可下載更新軟件
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技術(shù)參數(shù)
主機型號
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MINITEST 720
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MINITEST 730
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MINITEST 740
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探頭類型
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內(nèi)置
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外置
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內(nèi)置外置可換
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數(shù)據(jù)記憶組數(shù)
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10
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10
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100
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存儲數(shù)據(jù)量
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最多10,000個
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最多10,000個
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最多100,000個
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統(tǒng)計值
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讀值個數(shù)、最小值、最大值、平均值、標準方差、變異系數(shù)、組統(tǒng)計值(標準設置/自由配置)
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校準程序符合國際標準和規(guī)范
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ISO、SSPC、瑞典標準、澳大利亞標準
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校準模式
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出廠設置校準、零點校準、兩點校準、三點校準，使用者可調(diào)節(jié)補償值
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極限值監(jiān)控
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聲、光報警提示超過極限
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測量單位
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μm，mm，cm；mils，inch，thou
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操作溫度
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-10℃~60℃
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存放溫度
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-20℃~70℃
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數(shù)據(jù)接口
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IrDA 1.0(紅外接口)
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電源
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2節(jié)AA電池
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標準
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DIN EN ISO 1461，2064，2178，2360，2808，3882，19840
ASTM B244，B499，D7091，E376
AS 3894.3，SS 1841 60，SSPC-PA 2
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體積
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157mm x 75.5mm x 49mm
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重量
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約175g
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約210g
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約175g(內(nèi)置)/230g(外置)
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探頭：
探頭特性
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F1.5，N0.7，F(xiàn)N1.5
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F2
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F5，N2.5，F(xiàn)N5
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F15
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F
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N
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F
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F
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N
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F
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測量范圍
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0~1.5mm
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0~0.7mm
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0~-2mm
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0~5mm
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0~2.5mm
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0~15mm
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使用范圍
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小工件，薄涂層
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粗糙表面
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標準探頭，使用廣泛
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厚涂層
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測量原理
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磁感應
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電渦流
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磁感應
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磁感應
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電渦流
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磁感應
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信號處理
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探頭內(nèi)部32位信號處理(SIDSP)
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精確度
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±(1μm+0.75%)
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±(1.5μm+0.75%)
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±(5μm+0.75%)
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重復性
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±(0.5μm+0.5%)
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±(0.8μm+0.5%)
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±(2.5μm+0.5%)
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低端分辨率
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0.05μm
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0.1μm
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1μm
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最小曲率半徑(凸)
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1.0mm
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1.5mm
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5mm
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最小曲率半徑 (凹，外置探頭)
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7.5mm
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10mm
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25mm
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最小曲率半徑 (凹，內(nèi)置探頭)
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30mm
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30mm
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30mm
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最小測量面積
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Φ5mm
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Φ10mm
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Φ25mm
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最小基體厚度
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0.3mm
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40μm
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0.5mm
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0.5mm
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40μm
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1mm
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連續(xù)模式下測量速度
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每秒20個讀數(shù)
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單值模式下最大測量速度
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每分鐘70個讀數(shù)
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MINITEST700系列涂層測厚儀標準配置
-MINITEST 720(內(nèi)置探頭)
--或MINITEST 730(外置探頭)
--或MINITEST 740主機(不含探頭，有各種探頭可選)
-校準套裝含校準片和零板
-操作使用說明CD，德語、英語、法語、西班牙語
-中文說明書
-2節(jié)AA電池
-便攜軟包
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推薦配件
-F1.5/N0.7/FN1.5探頭用測量支架
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