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德國EPK MINITEST 730涂層測厚儀標準配置：
-MINITEST 720/730/740主機（可選）
-SIDSP探頭（可選）
-校準套裝含校準片和零板
-操作使用說明CD，德語、英語、法語、西班牙語
-2節(jié)AA電池
德國EPK MINITEST 730涂層測厚儀推薦配件:
帶塑料手提箱，內(nèi)含： -F1.5/N0.7/FN1.5探頭用測量支架
德國EPK MINITEST 730涂層測厚儀主機
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型號 特性 |
MINITEST 720 |
MINITEST 730 |
MINITEST 740 |
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探頭類型 |
內(nèi)置 |
外置 |
內(nèi)置外置可換 |
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數(shù)據(jù)記憶組數(shù) |
10 |
10 |
100 |
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存儲數(shù)據(jù)量 |
最多10,000個 |
最多10,000個 |
最多100,000個 |
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統(tǒng)計值 |
讀值個數(shù)，最小值，最大值，平均值，標準方差，變異系數(shù)，組統(tǒng)計值（標準設(shè)置/自由配置） | ||
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校準程序符合國際標準和規(guī)范 |
ISO，SSPC，瑞典標準，澳大利亞標準 | ||
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校準模式 |
出廠設(shè)置校準，零點校準，2點校準，3點校準，使用者可調(diào)節(jié)補償值 | ||
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極限值監(jiān)控 |
聲、光報警提示超過極限 | ||
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測量單位 |
um，mm，cm；mils，inch，thou | ||
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操作溫度 |
-10℃-60℃ | ||
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存放溫度 |
-20℃-70℃ | ||
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數(shù)據(jù)接口 |
IrDA 1.0（紅外接口） | ||
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電源 |
2節(jié)AA電池 | ||
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標準 |
DIN EN ISO 1461，2064，2178，2360，2808，3882，19840 | ||
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體積 |
157mm x 75.5mm x 49mm | ||
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重量 |
約175g |
約210g |
約175g（內(nèi)置）/230g（外置） |
德國EPK MINITEST 730涂層測厚儀探頭技術(shù)數(shù)據(jù)表:
SIDSP探頭
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探頭 特性 |
F1.5，N0.7，F(xiàn)N1.5 |
F2 |
F5，N2.5，F(xiàn)N5 |
F15 | ||
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F |
N |
F |
F |
N |
F | |
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測量范圍 |
0-1.5mm |
0-0.7mm |
0-2mm |
0-5mm |
0-2.5mm |
0-15mm |
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使用范圍 |
小工件，薄涂層，跟測量支架一起使用 |
粗糙表面 |
標準探頭，使用廣泛 |
厚涂層 | ||
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測量原理 |
磁感應(yīng) |
電渦流 |
磁感應(yīng) |
磁感應(yīng) |
電渦流 |
磁感應(yīng) |
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信號處理 |
探頭內(nèi)部32位信號處理（SIDSP） | |||||
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精確度 |
±（1μm+0.75%讀值） |
±（1.5μm+0.75%讀值） |
±（5μm+0.75%讀值） | |||
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重復(fù)性 |
±（0.5μm+0.5%讀值） |
±（0.8μm+0.5%讀值） |
±（2.5μm+0.5%讀值） | |||
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低端分辨率 |
0.05μm |
0.1μm |
1μm | |||
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最小曲率半徑（凸） |
1.0mm |
1.5mm |
5mm | |||
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最小曲率半徑（凹，外置探頭） |
7.5mm |
10mm |
25mm | |||
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最小曲率半徑（凹，內(nèi)置探頭） |
30mm |
30mm |
30mm | |||
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最小測量面積 |
Φ5mm |
Φ10mm |
Φ25mm | |||
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最小基體厚度 |
0.3mm |
40μm |
0.5mm |
0.5mm |
40μm |
1mm |
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連續(xù)模式下測量速度 |
每秒20個讀數(shù) | |||||
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單值模式下最大測量速度 |
每分鐘70個讀數(shù) | |||||
