德國KK/GE雙晶直探頭SEB4雙晶直探頭

德國GE/KK公司SEB4 帶組合延遲線的TR（雙晶）直探頭

主要特性：

l         近表分辨率極佳

l         與曲面和粗糙面耦合好

l         散射噪聲較小

l         對曲面工件也能沿其輪廓進行檢測

l         歐款有側(cè)裝Lemo 00連接口，SEB..KF型Microdot側(cè)裝

l         美款有固定BNC電纜（ADP）或側(cè)裝MMD（FDU）

主要應(yīng)用：

通常：近表面的小缺陷探測和評估。焦點內(nèi)大缺陷以及平行于表面分布的缺陷檢測。剩余壁厚的測量（即使在高溫情況下）。

l         壁厚余量，銹蝕、腐蝕

l         近表缺陷檢測

l         小零件—螺釘，螺栓，銷釘

l         覆層和堆焊層

l         粘接檢測

l         軸，桿，方坯芯部缺陷

l         粗晶材料

SEB..和SEB..O°系列探頭特點：

用于探測棒材、坯塊、桿等中心缺陷的標(biāo)準(zhǔn)探頭。經(jīng)常用作在中等和大尺寸物體（如鍛造或鑄造的物體）中預(yù)期區(qū)域內(nèi)缺陷的探測（如氣孔、微孔和熱裂縫）。更適合于用作與物體平面平行的缺陷區(qū)域精確范圍的確定（如層狀結(jié)構(gòu)缺陷、渣孔及厚鋼板中的他隔線）。

具體型號有：

SEB1、SEB1-EN、SEB2、SEB2-EN、SEB2- O°、SEB4、SEB4-EN、 SEB4- O°、SEB4-EN- SEB2-EN-O°