TT230渦流測厚儀|氧化膜測厚儀_

TT230渦流測厚儀|氧化膜測厚儀是一種超小型測量儀，它能快速、無損傷、精密地進行非磁性金屬基體上非導電覆蓋層厚度測量；可廣泛用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領域；該儀器體積小、測頭與儀器一體化，特別適用于工程現場測量。

符合以下標準：

• GB/T 4957-1985 渦流方法
• JJG 818-93 《電渦流式測厚儀》
• JB/T8393-1996磁性和渦流覆層測厚儀

TT230功能特點

• 采用了渦流測厚法，可無損傷地測量非磁性金屬基體上非導電覆蓋層的厚度
  （如銅、鋁、鋅、錫等基底上的琺瑯、橡膠、油漆鍍層）
• 可進行零點校準及二點校準，并可用基本校準法對測頭的系統(tǒng)誤差進行修正
• 具有兩種測量方式：連續(xù)測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）
• 具有兩種工作方式：直接方式(DIRECT)和成組方式(Appl)
• 具有刪除功能：對測量中出現的單個可疑數據進行刪除，也可刪除存貯區(qū)內的所有數據
• 設有五個統(tǒng)計量：平均值、最大值（MAX）、最小值（MIN）、測試次數（NO．）、標準偏差
• 具有米、英制轉換功能
• 具有打印功能，可打印測量值、統(tǒng)計值
• 具有欠壓指示功能
• 操作過程有蜂鳴聲提示
• 具有錯誤提示功能
• 具有自動關機功能

• 測頭類型：N
• 測量原理：電渦流
• 測量范圍： 0-1250um | 0-40um(銅上鍍鉻)
• 低限分辨力：1μm(10um以下為0.1um)
• 探頭連接方式：一體化
• 示值誤差：
  1. 一點校準(um)：±[3%H+1.5]
  2. 兩點校準(um)：±[（1%~3%）H+1.5]
• 測量條件：
  1. 最小曲率半徑(mm)：凸3 | 凹10
  2. 基體最小面積的直徑(mm)：ф5
  3. 最小臨界厚度(mm)：0.3
• 溫濕度：0~40℃ | 20%RH～90%RH
• 統(tǒng)計功能：平均值、最大值（MAX）、最小值（MIN）、測試次數（NO．）、標準偏差
• 工作方式：直接方式(DIRECT)和成組方式(Appl)
• 測量方式：連續(xù)測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）
• 上下限設置：無
• 存儲能力：15個測量值
• 打印/連接計算機：可選配打印機/能連接電腦
• 關機方式：自動
• 電源：二節(jié)3.6V鎳鎘電池
• 外形尺寸：150×55.5×23mm
• 重量：150g

• 主機
• 鋁基體
• 標準片一套
• 充電器
• 使用說明書

• 打印機

聯系人：伍先生 電話：023-68655606 手機：15213329913 傳真：023-68651838 QQ:1040231673