JAI CM-040GE CB-040GE 工業相機 轉向節表面缺陷檢測

C系列

CM-040-GE

面陣掃描

單色

Visible

0.4 百萬像素

782 x 582 px

60 fps

否

GigE Vision接口

1XCCD

ICX415AL

1/2 inch

8.3 x 8.3 μm

全局快門

8.1 毫米

6.5 x 4.8 mm

29 x 44 x 75 mm

125 克

8/10-bit

C口

3.60 瓦

-5°C to +45°C