用途

大屏幕熔煉測溫儀是為冶煉、鑄造等行業熔煉過程快速測量熔融金屬溫度而研制的高精度專用儀器。

該儀器以高性能單片微機為核心、采用高精度測量傳感器件、并采取多種智能化處理技術，以確保儀器長期穩定工作。

該儀器與相適應的熱電偶配套可在多種場合進行精密快速測溫（如右上表所示）。
新聞:青海中頻爐熔煉測溫儀WK-200A

有必要采用一些其他方法來提高傳導EMI的性能。本文主要討論的是引入輸入濾波器來濾除噪聲，或增加屏蔽罩來鎖住噪聲。EMI濾波器示意簡圖是一個簡化的EMI濾波器，包括共模（CM）濾波器和差模（DM）濾波器。通常，DM濾波器主要用于濾除小于30MHz的噪聲（DM噪聲），CM濾波器主要用于濾除30MHz至100MHz的噪聲（CM噪聲）。但其實這兩個濾波器對于整個頻段的EMI噪聲都有一定的作用。顯示了一個不帶濾波器的輸入引線噪聲，包括正向噪聲和負向噪聲，并標注了這些噪聲的峰值水平和平均水平。
特點

大屏幕熔煉測溫儀采用5英寸大數碼管（字高128mm）顯示，適合遠距離讀數、觀看，具有大屏幕儀器遠距離可視之特性。

本儀器具有溫度測量結束時電鈴聲響提示功能、溫度測成值自動保持功能、斷偶、超量程等報警功能。操作簡單、方便。

本儀器由于采用了的抗干擾措施，故具有極好的抗干擾能力。中頻爐通電熔煉時無須斷電便可在爐內進行測溫。

本儀器可監控現場工人操作，便于加強企業的內部管理。

本儀器同機可配用5種熱電偶。
新聞:青海中頻爐熔煉測溫儀WK-200A

分別使用SpectrumView和傳統的FFT(Math功能)測試該信號的頻譜，通過對比可以看出，由于時域捕獲時間較短，導致傳統FFT頻譜的分辨率非常低。相反，SpectrumView的頻譜測試結果非常好，不僅具有高分辨率，而且底噪也非常低，可以清晰地觀測信號本身及其諧波和雜散。與此同時，由于水平時基設置得較小，還可以觀測到時域波形的細節信息。.諧波、雜散測試：時域參數及頻譜測試鑒于SpectrumView的這些優勢，結合示波器其它功能，還可以對射頻脈沖信號進行診斷測試，包括時域包絡參數及信號頻譜等。
技術性能指標

1、測量范圍和測量精度（如右表所示）： 

2、分辨率（℃）： 1

3、響應時間（S）：1

4、環境條件：

 ⑴、工作條件： 溫度（℃）：   0～50；  濕度（％RH）：5～80

⑵、存貯條件：溫度（℃）：－20～60；  濕度（％RH）：5～90

5、電   源：AC220V±10％

6、大屏幕外型尺寸：500×238×90（mm）

新聞:青海中頻爐熔煉測溫儀WK-200A

半導體生產流程由晶圓制造，晶圓測試，芯片封裝和封裝后測試組成，晶圓制造和芯片封裝討論較多，而測試環節的相關知識經常被邊緣化，下面集中介紹集成電路芯片測試的相關內容，主要集中在WAT，CP和FT三個環節。集成電路設計、制造、封裝流程示意圖WAT（WaferAcceptanceTest）測試，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），對Wafer劃片槽（ScribeLine）測試鍵（TestKey）的測試，通過電性參數來監控各步工藝是否正常和穩定，CMOS的電容，電阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成制程前，是Wafer從Fab廠出貨到封測廠的依據，測試方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT測試機臺上，由WATRecipe自動控制測試位置和內容，測完某條TestKey后，ProbeCard會自動移到下一條TestKey，直到整片Wafer測試完成。

工作原理

本儀器采用熱電偶為儀器的測溫傳感器件。熱電偶測溫時產生的熱電勢經儀器前置放大器件放大后，再經A/D轉換器轉換成數字量，然后送入微機進行數據處理，實現環境溫度自動補償、零位自校準、爐溫穩定值自動顯示及保持功能。

測溫儀測溫時，儀器對典型測溫過程（急升—過沖—穩定）均能自動計算其穩定的溫度值，并顯示和保持任意時間。此時電鈴聲響同步提示操作者結束測溫，提起測試槍。

安裝                              

1、大屏幕熔煉測溫儀的安裝                          

打開包裝箱，小心取出大屏幕顯示屏，一般說來，大屏幕顯示屏應安裝在距測溫點直線可視距離10米左右范圍內較適合，以便于、記錄。安裝位置距地面高度以2－4 米為宜，盡可能選擇在離爐子較遠的墻面上，電源為接地可靠的照明電源

新聞:青海中頻爐熔煉測溫儀WK-200A受到兩部分鐵芯閉合程度的影響，電流鉗精度通常比互感器差。同樣地基于電磁感應的電流鉗也只能測量交流。基于霍爾效應的電流鉗在鐵芯中加工一個氣隙放置霍爾元件。利用霍爾元件測量氣隙中的磁感應強度，根據控制方式不同，有開環和閉環兩種類型。開環霍爾型使用線性度較好的霍爾元件，霍爾元件輸出電壓正比于被測電流。閉環霍爾型使用零磁通技術，鐵芯上有補償線圈。當初級有被測電流在鐵芯中產生磁通時，霍爾元件檢測鐵芯中的磁感應強度，通過負反饋將此誤差電壓轉換為電流驅動補償線圈，抵消鐵芯中的磁通，終被測電流與補償線圈產生的磁通量大小一致方向相反，通過測量補償線圈的電流即可按照匝數比換算出被測電流。