廣東深圳德譜DP8800直讀光譜儀的優(yōu)勢
1、世界先進的二代CCD全譜光譜制造技術（數(shù)字化技術替代老式體積龐大笨重的光電倍增電子管模擬技術）、通道不受限制 ；
2、引進歐洲技術、同國際光譜儀技術同步，國內*能生產真空CCD全譜技術光譜儀的制造商；
3、基體范圍內通道改變、增加不需費用； 4、升級多基體方便，無須變動增加硬件 ；
5、優(yōu)良的數(shù)據(jù)穩(wěn)定性，同一樣品不同的時間段分析，可獲得良好的數(shù)據(jù)*性 ；
6、體積小、重量輕， 移動安裝方便 ； 7、高集成度、高可靠性、高穩(wěn)定性 ；
8、節(jié)電、節(jié)材、能耗只是普通光譜儀50%。
可測定包括痕量碳（C），磷（P）,硫（S）元素,適用于多種金屬基體，如：鐵基，鋁基，銅基，鎳基，鉻基，鈦基，鎂基，鋅基，錫基和鉛基。全譜技術覆蓋了全元素分析范圍，可根據(jù)客戶需要選擇通道元素；
直讀光譜儀
http://www.delptek.net/delptek88-SonList-1420321/
http://www.chem17.com/st221123/erlist_1420321.html
