日本電測densoku電阻式膜厚計RST-231

易于操作且時間短（0.7秒）
絕緣體上金屬膜的高度精確測量

?在0.7秒內(nèi)測量絕緣層上的金屬膜
?使用個人計算機
易于查看的屏幕?易于校準和測量
?可立即查看直方圖，輪廓等
?異常值檢測功能

電阻式膜厚計RST-231的特點

在0.7秒內(nèi)測量絕緣子上的金屬膜

它可以在短時間內(nèi)（0.7秒）高精度測量絕緣體上的金屬膜（銅箔，印刷基板的鍍層等）。

易于閱讀的屏幕配置

屏幕大而明亮，使用個人計算機時易于查看。

易于校準和測量

易于校準和測量?？梢赃x擇兩個測量范圍（2至24μm，10至120μm）。

可以立即看到各種數(shù)字

經(jīng)過統(tǒng)計處理后，您始終可以立即看到直方圖，配置文件和xR管理圖。

離群值檢測功能

如果設置薄膜厚度的上限和下限，則會通知您異常值。

支持更換每個探針

如果探頭的探頭損壞，可以為每個探頭更換它，并以低成本維修。

易于統(tǒng)計處理

可以保存每個通道的測量數(shù)據(jù)，以后可以為測量數(shù)據(jù)設置統(tǒng)計項目以進行統(tǒng)計處理。

z多可以注冊40個頻道

由于z多可以注冊40個通道，因此可以根據(jù)用戶名和部件號分別注冊來管理通道。

支持更換每個探針

使用4探針（開爾文型），即使在雙面板和多層板上也可以不受背面或內(nèi)層的影響進行高精度測量。

日本電測densoku電阻式膜厚計RST-231

電阻式膜厚計RST-231的規(guī)格? 4探針探針規(guī)格