日本三桂Sankei探針CP40-D-SPS 

日本三桂Sankei探針CP40-D-SPS 

日本三桂Sankei探針CP40-D-SPS 

廣泛應用于電子測試領域
彈簧結構：采用傳統單彈簧外置設計，結構簡單，成本較低，這種設計能保證探針與被測點之間的良好接觸，適合常規電子測試。
頭部設計：型號中的 “D-SPS” 表示其頭部為純尖頭（Domed Tip）+ 三棱錐（Splinter Tip）組合，具有很強的穿透氧化層能力，接觸面積≤0.05mm2，適合微小焊盤測試。
材質：探針主體采用超硬鎢合金材質，并鍍有厚度≥1μm 的薄金，具有良好的耐磨性和導電性，接觸電阻≤1Ω，能滿足高精度測量需求。
安裝接口：尾部螺紋為 M3 標準，適配三桂 AS-40 (15) 針套，兼容 2.54mm 節距的測試夾具布局，便于安裝和使用。