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至于V2P結構，評估失敗的試樣的橫截面并沒有顯示出多余的長絲生長或相關的電化學遷移效應的證據(jù)，這些證據(jù)可以被認為是HAST測試失敗的根本原因，實際上，梳狀結構在失敗的樣品處顯示出明顯的銅遷移跡象，圖22在暗場視圖中顯示了TV3處故障結構的示例。
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顯微硬度測試的常見問題
1、準確性 – 儀器以線性方式讀取公認硬度標準（經過認證的試塊）的能力，以及將該準確性轉移到測試樣本上的能力。
2、重復性- 結果是否可以使用公認的硬度標準重復。
3、相關性——兩臺經過正確校準的機器或兩個操作員能否得出相同或相似的結果（不要與使用同一臺機器和同一操作員的重復性相混淆。

并解決了固定邊和簡單支撐邊的問題，結果列于表27，87表27，PCB固有頻率的分析和有限元解決方案比較固定邊緣簡支邊緣分析解決方案有限元解決方案分析解決方案有限元解決方案1529Hz1513Hz810Hz803Hz誤差=1.05%誤差=0.86%5.3電子元器件振動的離散建模組件在兩個主要方面很重要。 灰塵和海鹽)，相對濕度，溫度，降水(酸度，強度，持續(xù)時間和形式)，太陽輻射32(強度和持續(xù)時間)和風(速度和方向)，大氣腐蝕可分為干燥，潮濕，和濕類，在一定的臨界濕度水上會形成薄薄的濕氣膜(不可見的電解質)。

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1、機器。
維氏顯微硬度測試儀通過使用自重產生力來進行測量。這些輕負載裝置 (10-2,000 gf) 將自重直接堆疊在壓頭頂部。雖然這消除了放大誤差以及其他誤差，但這可能會導致重復性問題。在大多數(shù)情況下，顯微硬度計使用兩種速度施加載荷——“快”速度使壓頭靠近測試件，“慢”速度接觸工件并施加載荷。壓頭的“行程”通常用測量裝置設定。總而言之，一件樂器給人留下印象大約需要 30 秒。此時，在進行深度測量或只是試圖在特定點上準確放置壓痕時，壓頭與物鏡的對齊至關重要。如果這部分弄錯了，即使硬度值不受影響，但距樣品邊緣的距離也可能是錯誤的，終導致測量錯誤。
f)對于FR4基介電材料，微通孔的熱循環(huán)測試在190°C時有效，這些升高的溫度有效地證明了堅固的結構可以承受3000次以上的熱循環(huán)，g)預計故障模式會在單個，兩個，三層和四層微孔結構相對于它們與PWB結構中心的內部結構(埋孔)的關系和連接。 即使存在氮(N)和氫(H)等元素，也無法檢測到，76根據(jù)EDS和IC分析結果，三個天然粉塵樣品中的主要礦物包括石英(SiO2)，長石(KAlSi3O8-NaAlSi3O8-CaAl2Si2O8)，方解石(CaCO3)。

2、運營商。
顯微硬度測試很大程度上受操作者的能力和技能的影響。正確的聚焦是獲得準確結果的關鍵因素。模糊圖像和結果很容易被誤讀或誤解。在許多情況下，操作員有時會急于進行測試并取出零件。必須小心確保正確的結果。在許多情況下，機器的自動對焦可以幫助消除一些由乏味、費力和重復性任務帶來的感知錯誤。
手動記錄和轉換結果可能是操作員出錯的另一個原因。疲勞的眼睛很容易將 99.3 視為 9.93。  自動給出轉換和結果的數(shù)字顯微硬度測試儀可以幫助消除這個問題。此外，相機幾乎可以連接到任何顯微硬度測試儀上，以幫助找到印模末端。
此外，柔性PCB也常用于設備應用中，通常，設備在使用時彎曲的能力是其作為設備的功能所不可或缺的，電信應用電信行業(yè)的產品要求廣泛用于眾多電信應用領域的PCB，包括陸地有線通信系統(tǒng)，無線系統(tǒng)，大容量存儲系統(tǒng)。 并且發(fā)現(xiàn)其中一些是由ECM引起的，在板上進行了故障分析，包括在立體顯微鏡下的目視檢查，通過離子色譜法(IC)進行的表面離子污染分析，通過X射線成像識別金屬遷移，通過X射線熒光(XRF)分析進行批量化學分析。

3、環(huán)境問題。
由于顯微硬度測試中使用輕負載，振動可能會影響負載精度。壓頭或試樣的振動會導致壓頭更深地進入零件，從而產生更柔軟的結果。顯微硬度計應始終放置在專用、水平、堅固、獨立的桌子上。確保您的桌子沒有靠墻或相鄰的桌子。
顯微硬度計硬度計機器具有高倍光學鏡片。如果在測試儀附近進行切割、研磨或拋光，鏡頭上可能會沾上污垢，從而導致結果不準確。
這使得測試對于工業(yè)采用是不切實際的，在這項研究中，采用以下方法，先，確定關鍵的相對濕度范圍和溫度條件，然后，為ECM評估中的灰塵選擇這些環(huán)境參數(shù)的適當組合，因此，路徑形成步驟被縮短，并在五天內成功再現(xiàn)了ECM或腐蝕故障。 當伺服系統(tǒng)組件發(fā)生故障時，您希望盡可能減少停機時間，機械故障的時間越長，您將損失的時間和金錢就越多，但是，您可能沒有預算為每個伺服組件提供備份，因此，如果您知道哪些自動化設備組件發(fā)生故障頻繁，請為這些有問題的組件購買備份。 在少數(shù)需要運送[X-Out"板的情況下，必須遵循以下標準，一種，X-Out被定義為有缺陷的板，它是板的面板陣列的一部分，它已經過制造商的測試和/或檢查，發(fā)現(xiàn)不符合規(guī)格，并且在面板的兩側均標有[X"，包含X-Out板的板(如果已裝運)必須分開包裝。

不同的生命周期階段也會有不同的要求。生命周期階段包括驗證測試，制造，運輸，存儲，使用和服務。每個行業(yè)領域中可接受的故障率也相差很大，因此在產品設計上需要有很大的不同。在同一個產品中，可能還會有具有不同熱負荷的電子組件。例如，在LCD觸摸面板中，電壓調節(jié)器和網絡模塊可以同時處于不同的溫度。在某些情況下，可能存在特殊的現(xiàn)場條件。一些產品，例如智能，發(fā)射臺，自動體外除顫器和安全氣囊，需要長期存放，然后再短暫使用。在這些產品中，大部分產品壽命都處于處于非活動狀態(tài)的狀態(tài)，這是至關重要的短期使用所造成的。電子產品需要生存多年并終可靠。良好的設計應考慮產品的所有生命周期，包括測試，運輸和存儲，而不僅僅是使用階段。

都提到了常見問題，例如焊點幾何形狀和覆蓋范圍，此外，討論了兩種疲勞模型的應用場景，在種情況下，工程師將一組現(xiàn)有的疲勞測試數(shù)據(jù)提供給工程師，以確定如何好地解釋數(shù)據(jù)以及適用哪種疲勞模型，6在第二個必須為新產品設計測試方案。 如果您的FanucAlpha放大器發(fā)出錯誤代碼或僅運行了制動器，請先檢查伺服電機是否已連接，然后檢查電纜，如果發(fā)現(xiàn)放大器有故障，請將您的設備發(fā)送到有經驗的維修中心，如RepairZone，com，我們可以提供評估。 但是，在垂直于印刷儀器維修面的軸上振動期間，儀器維修會來回彎曲，因此在組件的電線中會產生彎曲應力，從而將組件固定到印刷儀器維修上(圖1.1)，圖1.振動儀器維修上的組件引線彎曲[3]3電子組件承受振動的能力取決于許多不同的因素。 然后，建立了具有簡單支撐和固定邊緣的矩形印刷儀器維修的分析模型，此外，建議使用通過導線連接到PCB的特定類型電子元件的分析模型，這些模型可用于PCB和電子元件的固有頻率計算，以及對隨機輸入的響應預測，1有限元建模使用可靠的商業(yè)有限元軟件ANSYS對由電子箱。

直到在正弦波上達到臨界的“點火電壓”為止。在此觸發(fā)電壓下，晶體管（或其他設備）柵或允許傳導電流。該電流通常隨時間增加，直到正弦波達到峰值，然后減小，直到在正弦波的“向下”達到臨界點火電壓為止。然后，設備關閉，電流變?yōu)榱恪Ｔ谡也ǖ呢搨葧l(fā)生同樣的事情，并會吸引第二個負電流脈沖。那么，汲取的電流是一系列的正負脈沖，而不是線性系統(tǒng)汲取的正弦波。一些系統(tǒng)具有不同形狀的波形，例如方波。這些類型的系統(tǒng)通常稱為非線性系統(tǒng)。消耗此類電流的電源稱為開關模式電源。一旦形成這些脈沖電流，我們將很難分析它們的影響。培訓了電力工程師以分析正弦波對電力系統(tǒng)的影響。分析這些脈沖的影響要困難得多。圖3問題3為了解決這個問題。

請看 電動電位滴定儀故障維修五小時內修復搞定交流和減輕質量，可靠性或性能下降的風險。該過程要求開發(fā)風險緩解方法并實施批準的策略，以減少或消除質量逃逸和失敗的可能性。NASA用于管理和降低供應鏈風險的一些方法包括：1.識別風險（例如，與使用特定要求，標準，材料，設計，設施或制造技術有關的風險）。2.評估風險，進行分析以確定風險的可能性（概率）和后果的嚴重性（例如，性能下降的影響，解釋由于使用過時的規(guī)范導致的風險，分析影響并評估風險的重要性）。3.進行故障模式和影響分析，以識別可能影響印刷或組件功能的模式和故障機制。4.制定風險管理策略并確定可接受的風險水后，規(guī)劃和實施解決方案。5.持續(xù)改進方法，包括分析重新設計的流程，影響規(guī)格和標準，進行基準測試。  kjbaeedfwerfws