IC200MDL635模塊

 IC200MDL635模塊 

用萬(wàn)能表檢測(cè)電路板 
1.離線檢測(cè) 
  測(cè)出IC芯片各引腳對(duì)地之間的正,反電阻值.以此與好的IC芯片 
進(jìn)行比較,從而找到故障點(diǎn). 
2.在線檢測(cè) 
  1)直流電阻的檢測(cè)法 
    同離線檢測(cè).但要注意: 
    (a)要斷開待測(cè)電路板上的電源; 
    (b)萬(wàn)能表內(nèi)部電壓不得大于6V; 
    (c)測(cè)量時(shí),要注意外圍的影響.如與IC芯片相連的電位器等. 
  2)直流工作電壓的測(cè)量法 
    測(cè)得IC芯片各腳直流電壓與正常值相比即可.但也要注意： 
    (a)萬(wàn)能表要有足夠大的內(nèi)阻,數(shù)字表為; 
    (b)各電位器旋到中間位置; 
    (c)表筆或探頭要采取防滑措施,可用自行車氣門芯套在筆頭上, 
       并應(yīng)長(zhǎng)出筆尖約5mm; 
    (d)當(dāng)測(cè)量值與正常值不相符時(shí),應(yīng)根據(jù)該引腳電壓,對(duì)IC芯片正 
       常值有無(wú)影響以及其它引腳電壓的相應(yīng)變化進(jìn)行分析; 
    (e)IC芯片引腳電壓會(huì)受外圍元器件的影響.當(dāng)外圍有漏電,短路, 
       開路或變質(zhì)等; 
    (f)IC芯片部分引腳異常時(shí),則從偏離大的入手.先查外圍元器件, 
       若無(wú)故障,則IC芯片損壞; 
    (g)對(duì)工作時(shí)有動(dòng)態(tài)信號(hào)的電路板,有無(wú)信號(hào)IC芯片引腳電壓是不 
       同的.但若變化不正常則IC芯片可能已壞; 
    (h)對(duì)多種工作方式的設(shè)備,在不同工作方式時(shí)IC腳的電壓是不同 
       的. 
  3)交流工作電壓測(cè)試法 
    用帶有dB檔的萬(wàn)能表,對(duì)IC進(jìn)行交流電壓近似值的測(cè)量.若沒(méi)有dB 
    檔,則可在正表筆串入一只0.1-0.5μF隔離直流電容.該方法適用 
    于工作頻率比較低的IC.但要注意這些信號(hào)將受固有頻率,波形不 
    同而不同.所以所測(cè)數(shù)據(jù)為近似值,僅供參考. 
  4)總電流測(cè)量法 
    通過(guò)測(cè)IC電源的總電流,來(lái)判別IC的好壞.由于IC內(nèi)部大多數(shù)為直 
    流耦合,IC損壞時(shí)(如PN結(jié)擊穿或開路)會(huì)引起后級(jí)飽和與截止,使 
    總電流發(fā)生變化.所以測(cè)總電流可判斷IC的好壞.在線測(cè)得回路電 
    阻上的電壓,即可算出電流值來(lái). 
以上檢測(cè)方法,各有利弊.在實(shí)際應(yīng)用中將這些方法結(jié)合來(lái)運(yùn)用.運(yùn)用好了 
就能維修好各種電路板。  

 IC200MDL635模塊 

Allen-Bradley（羅克韋爾），Schneider（施耐德），Siemens（西門子），GE（通用電氣），ABB，
Omron（歐姆龍），IFM（易福門），Emerson（艾默生），F(xiàn)anuc（發(fā)那科），F(xiàn)oxboro（福克斯波羅），
Westinghouse（西屋），Honeywell（霍尼韋爾），Panasonic（松下），Mitsubsihi（三菱），
Beckhoff（倍福），Yaskawa（安川），Pepperl+fuchs（倍加福），B&R（貝加萊），Danfoss（丹佛斯）
，F(xiàn)uji（富士），F(xiàn)esto（費(fèi)斯托），Phoenix（菲尼克斯），Koyo（光洋），Yokogawa（橫河），
Heidenhain（海德漢），Hydac（賀德克），Hirschmann（赫斯曼），Keyence（基恩士），Moeller（穆勒），
Kuka（庫(kù)卡），Kollmorgen（科爾摩根），Lenze（倫茨），Rosemount（羅斯蒙特），LG，LS（產(chǎn)電），
Rexroth（力士樂(lè)），Leuze（勞易測(cè)），Norgren（諾冠），Pilz（皮爾茲），Pro-face（普洛菲斯），
SMC，Sanyo（三洋），Delta（臺(tái)達(dá)），Turck（圖爾克），Sick（施克），Sharp（夏普），Eaton（伊頓）
,bently (本特利）