控制器模塊 1794-IF4I

 控制器模塊 1794-IF4I

.功能與參數(shù)測試 
1.<測試儀>對器件的檢測,僅能反應出截止區(qū),放大區(qū)和飽和區(qū).但不 
能測出工作頻率的高低和速度的快慢等具體數(shù)值等. 
2.同理對TTL數(shù)字芯片而言,也只能知道有高低電平的輸出變化.而無 
法查出它的上升與下降沿的速度. 
四.晶體振蕩器 
1.通常只能用示波器(晶振需加電)或頻率計測試,萬用表等無法測量, 
否則只能采用代換法了. 
2.晶振常見故障有:a.內部漏電,b.內部開路c.變質頻偏d.外圍相連電 
容漏電.這里漏電現(xiàn)象,用<測試儀>的VI曲線應能測出. 
3.整板測試時可采用兩種判斷方法:a.測試時晶振附近既周圍的有關 
芯片不通過.b.除晶振外沒找到其它故障點. 
4.晶振常見有2種:a.兩腳.b.四腳,其中第2腳是加電源的,注意不可隨 
意短路. 
五.故障現(xiàn)象的分布 
1.電路板故障部位的不完全統(tǒng)計:1)芯片損壞30%, 2)分立元件損壞30%, 
3)連線(PCB板敷銅線)斷裂30%, 4)程序破壞或丟失10%(有上升趨勢). 
2.由上可知,當待修電路板出現(xiàn)聯(lián)線和程序有問題時,又沒有好板子,既 
不熟悉它的連線,找不到原程序.此板修好的可能性就不大了. 

 控制器模塊 1794-IF4I

  三菱電機自動化產品廣泛應用于醫(yī)療、半導體、光伏、物流、數(shù)據(jù)中心、汽車等行業(yè)

  近年來，自動化產品在各行業(yè)的應用功能需求不斷增加，要求的開發(fā)響應速度大幅提高，這種需求不僅體現(xiàn)在傳統(tǒng)的汽車、物流、食品飲料等行業(yè)，更體現(xiàn)在半導體、EMS、數(shù)據(jù)中心等數(shù)字化相關領域以及鋰電等碳中和相關領域。為更快速、更靈活地響應中國市場多樣化的需求，中國共創(chuàng)中心應運而生。