OPTIV PERFORMANCE / M 系列 高精度復合式影像測量儀

專利雙Z軸復合式測量技術，實現亞微米范圍內的測量精度，開創影像精密測量的技術新高。光學測量和接觸測量結合在一個系統中，使得復合式影像測量儀極大限度地提高了測量效率和應用的靈活性。PERFORMANCE / M 還配備雙Z軸技術，進一步縮短了檢測周期，降低檢測成本，提高測量結果可靠性。

集多傳感器于一身，完成復雜的測量任務

Optiv PERFORMANCE / M 系列影像測量儀被廣泛的應用于: 3C電子、半導體、精密機械、醫療、航空航天、計量院所等行業。

1)  CCD影像:

對小、薄、軟、精密的被測特征進行非接觸測量避免形變。

2)  CWS白光:

對柔軟、反射或低對比度的表面進行亞微米精度級別的測量。

3)  接觸式掃描: 

對影像無法完成無法識別的三維特征進行單點觸發和連續掃描測量。