TOF-SIMS檢測異物成分檢測性能改進第三方檢測機構

TOF-SIMS檢測異物第三方檢測機構

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“微譜分析”，是指通過微觀譜圖（光譜、色譜、質譜、能譜、核磁共振譜、熱譜等）對未知成分進行分析的技術方法。一款產品在研發、生產、質控、使用過程中所有與成分相關的問題都可以通過微譜分析尋找解決方法。