TOF-SIMS檢測(cè)異物第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)

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“微譜分析”，是指通過微觀譜圖（光譜、色譜、質(zhì)譜、能譜、核磁共振譜、熱譜等）對(duì)未知成分進(jìn)行分析的技術(shù)方法。一款產(chǎn)品在研發(fā)、生產(chǎn)、質(zhì)控、使用過程中所有與成分相關(guān)的問題都可以通過微譜分析尋找解決方法。