- 產品
- 供應
- 公司
- 新聞
|
|
||||||||||||||||||||||||||||
蔡司 MultiSEM 研究合作計劃 全球速度非凡的掃描電子顯微鏡
借助 MultiSEM 顯微鏡，您可以充分運用 91 條并行電子束的采集速度?，F如今，您能夠以納米分辨率對厘米級樣品成像。這款出色的掃描電子顯微鏡（SEM）專為 7 x 24 小時的連續、可靠運行而設計。只需簡單設置高性能數據采集流程，MultiSEM 便能夠獨立地自動完成高襯度圖像采集。
使用成熟的 ZEN 成像軟件控制 MultiSEM：您可以直觀靈活地管理這款高性能掃描電子顯微鏡的所有功能選項。
MultiSEM 同時運用了多條電子束（綠色：照明通路）和多個探測器。微調探測通路能夠收集大量的二次電子（SE）用于成像。與分光鏡組合使用，可讓二次電子信號到達（紅色：探測通路）多探測器陣列。每條電子束在樣品的一個位置執行同步掃描程序，以此獲得單個拼片圖像。電子束呈六邊形排列。通過合并所有圖像拼片生成整幅圖像。
開啟電子顯微鏡速度的革新時代
以極高速度和納米分辨率采集圖像
大型樣品的采集和成像
ZEN 成像軟件
并行計算機設置程序用于快速記錄數據，確保整體高成像速度。圖像采集和工作流程控制在 MultiSEM 顯微鏡中完全獨立。
