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蔡司 Xradia 800 Ultra 超高分辨率無損三維成像系統

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產品價格: /人民幣 
最后更新: 2021-12-19 09:51:53
產品產地: 國外國外
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    產品詳細說明

    蔡司 Xradia 800 Ultra

    超高分辨率無損三維成像系統


    類同步輻射的實驗室三維成像

    擁有蔡司Xradia 800 Ultra X 射線顯微鏡,您可以實現低至50 nm 的空間分辨率,這是業界實驗室X射線成像系統前沿的水平。由于無損 3D 成像在如今的突破性研究中有重要的作用,您將會體驗到出眾的優異性能和靈活性。創新的 Xradia Ultra 系列具有吸收襯度和相位襯度的功能,X射線能量為 8KeV,并使用獨有的由同步輻射光學器件改造而來的附件。 Xradia 810 Ultra 在研究材料隨時間的演變(4D)中,可實現出眾的原位和4D性能,拓展了3D X射線成像技術在材料科學,生命科學,自然資源和各種工業應用領域的局限。

    Xradia 800 Ultra 的分辨率低至50 nm,使微觀結構和進程可視化,這些是傳統實驗室 X 射線技術不能實現的。在 X 射線能量為8 KeV下運行,的穿透力和襯度適合各種材料,使您可以觀察自然狀態下的結構和材料。

     

    集成相位襯度技術的 Xradia 800 Ultra 運用 Zernike 方法在吸收襯度低時可增強晶界和材料交界處的可見度,使未染色的超結構和納米結構可視化。

     

    蔡司Xradia 800 Ultra 采用類似橫切法的無損技術,提供可信賴的內部 3D 信息。大工作距離和空氣樣品環境使您可以輕松的進行原位研究。



    • 無損三維 X 射線成像允許在直接微觀結構觀察下對同一樣品進行重復成像
    • 在原位設備中樣品成像保持低至 50nm 的高分辨率
    • 用于斷層掃描重構的圖像自動調整功能
    • 視野可在 15 至 60 μm 的范圍內進行切換
    • 吸收襯度和 Zernike 相位襯度成像模式
    • 在實驗室中開發、準備、測試你計劃的同步實驗,讓有限的同步輻射時間更加有效率
    • 搭配 Scout-and-Scan 控制系統和基于工作流程的用戶界面,尤其適合研究人員水平各不相同的中心實驗室

    材料科學
    對于高級材料的開發:研究和預測材料特性和演變。表征復合材料,例如燃料電池,聚合物及復合材料的三維結構。測量和確定孔隙,裂縫,相位分布等。通過吸收襯度成像來區分密度不同的材料。

    原材料
    石油與天然氣鉆井的可行性研究:進行虛擬巖心分析,縮短獲得研究結果的時間。相比傳統的巖心分析,測量地質樣品的納米孔結構只需要花費幾個小時。使用 Ultra 系列顯微鏡進行流體模型納米級分析以獲得亞微米成像。了解在負載下的地質力學,研究拉伸壓力對金屬的影響,或分析在壓力下的陶瓷。

    生命科學研究
    Xradia 800 Ultra可提供生物樣品如骨和軟組織的微觀組織結構,分辨率低至50納米。具有優良的對比度,可對多種材料進行納米級三維X射線成像,如應用于藥物傳遞的聚合物、組織樣品、用于組織工程的支架。

    電子學
    Xradia 800 Ultra為半導體樣品的電子封裝研究和開發提供可視化成像。

     

    蔡司Xradia Ultra新型樣品原位加載臺

    三維X射線顯微鏡進行納米級力學性能原位測試的又一新選擇

    進一步了解在三維負載情況下納米結構所發生的形變

    蔡司Xradia Ultra新型樣品原位加載臺利用無損3D成像為您提供出色的納米級的壓縮,拉伸以及壓痕等原位力學性能測試,可以在負載情況下,實現50納米空間分辨率的研究樣品內部結構三維演化過程。了解與局域納米特征相關的形變和失效如何發生。為現有的力學測試方法提供補充,實現深入觀察多個尺度范圍的行為。

    優勢

    • 將納米級力學性能原位測試功能添加至您的Xradia Ultra 納米級的3D X射線顯微鏡。
    • 能夠獲取樣品在負載情況下50納米空間分辨率的3D圖像
    • 能夠實現多種納米級力學性能測試模式,包括壓縮,拉伸以及壓痕測試
    • 能夠對包括金屬,陶瓷,復合材料,高分子材料以及生物材料在內的多種材料進行分析研究
    • 能夠補充電鏡,微米CT以及一些獨立的檢測設備等力學測試手段,實現多尺度下理解材料的性能變化---從原子級和納米級到微米和宏觀尺度。
    • 提供兩種模式,包括了不同大小的力值測量范圍
      • LS108: 力值0.8 N
      • LS190: 力值9 N 
    • 可與以下型號顯微鏡兼容:
      • ZEISS Xradia 800 Ultra
      • ZEISS Xradia 810 Ultra
      • Xradia UltraXRM-L200
      • Xradia nanoXCT-200 

    工作原理

    用戶可自行配制ZEISS Xradia Ultra 原位加載臺,操作簡便。其壓電式機械致動器中配有閉環位置控制器,應變式力傳感器以及一套上下對頂的鐵砧確保各種模式能夠正常運行。將樣品安裝在兩個鐵砧之間,使用傳感器測量鐵砧對樣品的作用力,而這個作用力則是鐵砧位移的函數。

    模式

    壓縮
    可在單軸壓縮負載條件下觀察材料的形變及破壞程度。通過研究彈性形變及塑性形變來判定所得效果的一致性以及與孔隙率,框架以及接口等的納米結構化特性的關聯性。

    張力
    可在單軸壓縮負載條件下觀察材料的形變及破壞程度。幫助我們更好地理解諸如彈性系數和拉伸沖擊強度的臨界參數以及它們與樣品納米結構化特性之間的關系。

    壓痕
    可在壓痕處觀察研究單獨形變以及破壞情況。幫助我們更好地理解裂紋形成及傳播過程以及鍍膜的分層結構。

    重要應用

    納米級機械原位檢測的應用相對廣泛,主要包含工程材料和自然材料兩大類
    應用示例如下:

    • 高強度和金
    • 生物材料/ 生物機械學
    • 鍍膜
    • 建筑材料
    • 纖維 / 復合材料
    • 泡沫體





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