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蔡司 Xradia 515 Versa3D亞微米成像系統
蔡司X射線顯微鏡 Xradia 515 Versa 突破3D成像和原位/ 4D研究的微米級分辨率的成像壁壘。
其高分辨率、高襯度以及靈活的工作距離下成像能力的組合，拓展了實驗室無損成像能力。
蔡司 Xradia 515 Versa 得益于兩級放大的架構，可實現大工作距離下亞微米級分辨率成像（RaaD）。
減少對單級幾何放大的依賴性，在大工作距離下依然保持了亞微米級分辨率。
應用案例--生命科學
優勢
即使在距射線源較大的工作距離（從毫米到厘米）下，也能實現多功能性。
典型任務與應用
無損三維成像
? 具有獨特的RaaD（遠距離高分辨率）功能，在大工作距離下也可以實現高分辨率成像
? 對同一個樣品在多個放大倍率范圍內進行多尺度成像
? 先進的成像襯度解決方案，包括吸收襯度和相位襯度
? 先進的4D 和原位成像技術，適用于不同尺寸和材料類型的樣品
? Smartshield 用于樣品保護和設置優化
? “定位- 和- 掃描”（Scout-and-Scan）功能可實現多用戶環境下對工作流程的簡化
? 自動實現樣品感興趣區域高精度定位，可實現無縫三維成像和導航
? 使用可選配的自動進樣裝置同時對多達14 個樣品的運行隊列進行編程
? 使用可選配的平板探測器（FPX）擴展觀察視野（FOV），可進行大樣品成像
? XRM Python API 可讓您靈活定制儀器的控制功能
? 可延展使用OptiRecon 和DeepRecon Pro 等先進的重建技術，令性能大幅提升（例如高至10 倍的通量、出色的圖像質量）
