蔡司Zeiss Xradia 610 & 620 Versa
X射線顯微鏡
蔡司 Xradia 610 & 620 Versa
蔡司Xradia 610 & 620 Versa 3D X射線顯微鏡在科研和工業(yè)研究領(lǐng)域?yàn)槟_(kāi)啟多樣化應(yīng)用的新高度。基于高分辨率和襯度成像技術(shù)，Xradia 610 & 620 Versa 大大拓展了亞微米級(jí)無(wú)損成像的研究界限。
技術(shù)參數(shù)：
不受影響的高分辨率
由于幾何放大固有的影響，常規(guī)的X射線計(jì)算機(jī)斷層掃描(CT)只能夠?qū)π悠愤M(jìn)行高分辨率成像。受長(zhǎng)工作距離的要求限制，對(duì)于大的樣品實(shí)現(xiàn)高分辨率成像是不可能的。此外，CT系統(tǒng)要實(shí)現(xiàn)高分辨率成像還需要具備低X射線通量，從而降低了檢測(cè)效率。大多數(shù)CT制造商所聲稱的高分辨率與實(shí)際的應(yīng)用分辨率是不符的。
蔡司Xradia 600 Versa系列通過(guò)將兩級(jí)放大架構(gòu)與高通量X射線源技術(shù)相結(jié)合，解決了這些問(wèn)題。
蔡司采用真實(shí)空間分辨率的概念，為衡量3D X射線顯微鏡性能提供了標(biāo)準(zhǔn)。空間分辨率是指成像系統(tǒng)能夠分辨兩個(gè)特征的最小距離。蔡司Xradia 600 Versa系列可實(shí)現(xiàn)500nm空間分辨率和40nm最小體素。
特點(diǎn)：
擴(kuò)大了微米級(jí)和納米級(jí)CT解決方案的應(yīng)用范圍
無(wú)損亞微米級(jí)分辨率顯微觀察
在不影響分辨率的情況下可實(shí)現(xiàn)更高通量和更快的掃描
空間分辨率500nm，最小體素40nm
可在不同工作距離下對(duì)不同類型、不同尺寸的樣品實(shí)現(xiàn)高分辨率成像
原位成像技術(shù)，在受控環(huán)境下對(duì)樣品微觀結(jié)構(gòu)的動(dòng)態(tài)演化過(guò)程進(jìn)行無(wú)損表征
可隨著未來(lái)的創(chuàng)新發(fā)展進(jìn)行升級(jí)和擴(kuò)展
