東京精密Accretech uf60 wafter probin machine

探針臺是對晶圓上形成的所有芯片進行電氣特性的測試的設備。使用這臺設備可以對芯片的良品、不良品的進行篩選。

Accretech UF系列基于一個靈活的平臺，具有高精度和高剛性，UF系列的一個更好的改進型，在整個裝配和線寬越來越小的半導體技術進步過程中，該臺設備主要用于晶圓比較薄的工藝。

UF60搭載圖像處理系統，實現自動化對齊，裝備標準上下料單元，適合測試分立器件的半自動探針臺，是一款適合6英寸晶圓/硅片的多用途設備。