FLUKE/福祿克F1535電阻測(cè)試儀2500V高壓絕緣電阻測(cè)試儀 F1535

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FLUKE/福祿克F1535電阻測(cè)試儀2500V高壓絕緣電阻測(cè)試儀 F1535

品牌：FLUKE/福祿克

型號(hào)：F1535

類(lèi)型：絕緣電阻測(cè)試儀

顯示屏73.5 mm x 104 mm

外形尺寸（高 x 寬 x 長(zhǎng)）184 mm x 211 mm x 93 mm

重量1.3 kg 

桃寶店鋪：東莞市天興電子科技有限公司

 F1535絕緣電阻測(cè)試儀技術(shù)參數(shù) 所規(guī)定的測(cè)試儀準(zhǔn)確度是校準(zhǔn)之后一年之內(nèi)在0°C至35°C工作溫度下的準(zhǔn)確度。工作溫度超出此范圍時(shí)（-20°C至0°C 以及 35°C至50°C），需將準(zhǔn)確度數(shù)值增加±0.25%/°C，但在20%誤差范圍時(shí)，需增加 ±1%/°C。 

FLUKE/福祿克F1535電阻測(cè)試儀2500V高壓絕緣電阻測(cè)試儀 F1535

產(chǎn)品特點(diǎn):   

1.絕緣測(cè)量量程高達(dá)500G；  

2.具備快速測(cè)量設(shè)計(jì)，絕緣阻值會(huì)較快達(dá)到穩(wěn)定讀數(shù)，工作快人一籌！   

3.具備自動(dòng)計(jì)算的極化指數(shù)（PI）/介電吸收比（DAR）功能/介質(zhì)放電率（DD）功能低功耗設(shè)4.計(jì)滿(mǎn)足高強(qiáng)度工作需求：2500V測(cè)量次數(shù)高達(dá)1300次，250V測(cè)量可達(dá)6500次；  

5.具備高安全性設(shè)計(jì)，具有危險(xiǎn)電壓報(bào)警功能，符合CAT IV 600V標(biāo)準(zhǔn)及電力行業(yè)規(guī)范DLT845；   

6.全新高可靠性設(shè)計(jì)，包括50°C高溫和80%濕度環(huán)境下，依舊保持對(duì)應(yīng)的電氣規(guī)格，表筆及對(duì)應(yīng)端口通過(guò)30000次插拔實(shí)驗(yàn)。   

產(chǎn)品參數(shù)： 

通用技術(shù)指標(biāo)  

外形尺寸（高 x 寬 x 長(zhǎng)）184 mm x 211 mm x 93 mm

電池 8 節(jié) IEC LR6 AA 堿性電池 

重量1.3 kg 

溫度   

工作溫度-10 °C 至 +50 °C 

存放溫度-20 °C 至 +60 °C  

工作濕度無(wú)冷凝（<10 °C） 

≤80 % 相對(duì)濕度（10 °C 至 30 °C）  

≤50 % 相對(duì)濕度（30 °C 至 50 °C） 

海拔  

工作海拔2000 m  

存放海拔12000 m 

過(guò)電壓類(lèi)別CAT IV 600 V 

安全性  

通用 IEC 61010-1，污染等級(jí) 2   

IEC 61010-2-033：CAT IV 600 V   

IEC 61557-1  

絕緣電阻測(cè)量IEC 61557-2

保護(hù)措施有效性IEC 61557-16 

防護(hù) (IP) 等級(jí) IEC 60529 IP40 

電磁兼容性 (EMC)  

國(guó)際IEC 61326-1：便攜式電磁環(huán)境  

IEC 61326-2-2 CISPR 11 

第 1 組：設(shè)備內(nèi)部產(chǎn)生和/或使用與傳導(dǎo)相關(guān)的無(wú)線(xiàn)電頻率能量，該能量對(duì)于設(shè)備自身的內(nèi)部功能必不可少。 

A 類(lèi)：設(shè)備適用于非家庭使用以及未直接連接到為住宅建筑物供電的低電壓網(wǎng)絡(luò)的任意設(shè)備中。由于傳導(dǎo)干擾和輻射干擾，在其他環(huán)境中可能難以保證電磁兼容性。  

小心：此設(shè)備不可用于住宅環(huán)境，且在此類(lèi)環(huán)境中可能無(wú)法提供充分的無(wú)線(xiàn)電接收保護(hù)。

電氣技術(shù)指標(biāo) 

測(cè)試儀經(jīng)校準(zhǔn)后在 10 °C 至 30 °C 的工作溫度條件下其可以維持 1 年。在工作溫度范圍以外（-10 °C 至 +10°C 和 +30 °C 至 +50 °C），波動(dòng)變化為 5 %時(shí)每攝氏度增加 ±0.25 %，波動(dòng)變化為 20 % 時(shí)每攝氏度增加 ±1 %。