手持式面銅測厚儀 CMI563
牛津儀器CMI563系列專為測量剛性及柔性、單層、雙層或多層印刷電路板上的表面銅箔厚度設(shè)計(jì)。
CMI563配置包括：
-
CMI563主機(jī)
-
SRP-4探頭（含SRP-4探針）
-
NIST認(rèn)證的校驗(yàn)用標(biāo)準(zhǔn)片1套
儀器規(guī)格：
-
厚度測量范圍：化學(xué)銅：0.25μm–12.7μm（0.01mils–0.5mils）
電鍍銅：2.0μm–152μm（0.1mil–6mil）
-
線性銅線寬范圍：203μm–6350μm（8mil–250mil）
-
顯示單位：mil、μm，一鍵自動(dòng)轉(zhuǎn)換
-
存 儲(chǔ) 量：13500條讀數(shù)
-
準(zhǔn) 確 度：±1%(±0.1μm)參考標(biāo)準(zhǔn)片
-
精 確 度：化學(xué)銅：標(biāo)準(zhǔn)差0.2%；電鍍銅：標(biāo)準(zhǔn)差0.5%
-
分 辨 率：0.1μm>10μm，0.01μm<10μm，0.001μm<1μm，
0.01mils>1mil，0.001mils<1mil
-
尺 寸：長×寬×高=149×79.4×30.2mm
(5 7/8”×3 1/8”×1 3/16”)
-
重 量：0.26 kg(9 oz)，含電池
-
電 池：9伏堿性電池，65小時(shí)連續(xù)使用
-
接 口：RS-232串行接口，波特率可調(diào)，用于下載至打印機(jī)或計(jì)算機(jī)
-
顯 示：4數(shù)位LCD液晶顯示，2數(shù)位存儲(chǔ)位置，字符高12.7mm（1/2英寸）
-
統(tǒng)計(jì)顯示：測量個(gè)數(shù)，標(biāo)準(zhǔn)差，平均值，最大值，最小值
-
統(tǒng)計(jì)報(bào)告：存儲(chǔ)位置，測量個(gè)數(shù)，銅箔類型，線形銅線寬，測量日期/時(shí)間，平均值，標(biāo)準(zhǔn)差，方差百分比，準(zhǔn)確度，最高值，最低值，值域，CPK值，單個(gè)讀數(shù)，時(shí)間戳，直方圖，（需配置串行打印機(jī)或PC電腦下載)。
-
電腦下載：可一個(gè)按鍵實(shí)現(xiàn)一個(gè)存儲(chǔ)位置內(nèi)所有數(shù)據(jù)下載。
儀器特點(diǎn)：
-
微電阻測試技術(shù)利用四根接觸式探針在表面銅箔上產(chǎn)生電信號進(jìn)行測量，當(dāng)探頭接觸銅箔樣品時(shí)，恒定電流通過外側(cè)兩根探針，而內(nèi)側(cè)兩根探針測得該電壓的變化值。根據(jù)歐姆定律，電壓值被轉(zhuǎn)換為電阻值，利用一定的函數(shù)，計(jì)算出厚度值。不受絕緣板層和線路板背面銅層影響
-
耗損的SRP-4探針可自行更換，為牛津儀器專利產(chǎn)品
-
儀器的照明功能和探頭的保護(hù)罩方便測量時(shí)準(zhǔn)確定位
-
儀器為工廠預(yù)校準(zhǔn)，無需校準(zhǔn)可測線性銅箔厚度
