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北京徠卡工業(yè)顯微鏡DM4M
北京徠卡工業(yè)顯微鏡DM4M北京徠卡工業(yè)顯微鏡DM4M熱線：13811719035李小兵
整體鑄造機(jī)身設(shè)計(jì)充分考慮鹵素?zé)糸L(zhǎng)期使用后產(chǎn)生的焦點(diǎn)熱漂移效應(yīng)，采取了反
向溫度補(bǔ)償技術(shù)，徹底消除了焦點(diǎn)漂移的弊端，確保永久保持最高襯度，最高分辨
率的圖像質(zhì)量
倍率： 10倍
視場(chǎng)： 25毫米大視野（可調(diào)整屈光度）
倍率： 5x,10x，20x，50x，100x
級(jí)別： 平場(chǎng)消色差EPI高對(duì)比度明暗場(chǎng)多功能
物鏡口徑：M32
中
45度）
2、軟件技術(shù)說(shuō)明
2.1 軟件技術(shù)特性：
2.2 金相分析軟件技術(shù)說(shuō)明:
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通用圖象分析軟件 |
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1．通用幾何測(cè)量: |
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2．各種參數(shù)測(cè)量 |
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3．?dāng)z像頭控制,采用中文界面。 |
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4．圖像實(shí)時(shí)采集、存儲(chǔ)與顯示，具有圖像記憶功能 |
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5．支持所有現(xiàn)有的TWAIN設(shè)備 |
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6．支持所有的圖象采集模式，通過(guò)高度優(yōu)化的異步控制達(dá)到實(shí)時(shí)采集的效果 |
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7．多種測(cè)量工具，包括任意長(zhǎng)度直線，曲線，圓，任意形狀閉合區(qū)域的面積，周長(zhǎng) |
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8．圖像處理工具箱功能，可直接將注釋添加到圖像上。 |
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9. 自動(dòng)記錄測(cè)量結(jié)果、彩色圖文報(bào)表輸出功能。 |
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10．報(bào)告編輯器，根據(jù)檢測(cè)結(jié)果可自動(dòng)生成檢測(cè)報(bào)告，報(bào)告格式可由用戶靈活修改 |
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11. 深度分析 |
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12. 標(biāo)尺功能，根據(jù)放大倍率和用戶自定義的標(biāo)尺長(zhǎng)度，系統(tǒng)會(huì)自動(dòng)換算并燒制在當(dāng)前圖像上。 |
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金相專用圖像分析軟件定量功能 |
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（一）晶粒度測(cè)量 |
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1.1平均晶粒度評(píng)級(jí)（截點(diǎn)法） |
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執(zhí)行 GB/T 6394-2002 標(biāo)準(zhǔn) |
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1.2 平均晶粒度評(píng)級(jí)（平均弦長(zhǎng)法） |
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執(zhí)行 ASTM E1382-91 標(biāo)準(zhǔn) |
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1.3 雙重晶粒度評(píng)級(jí) |
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執(zhí)行 ASTM E1382（各個(gè)弦長(zhǎng)法）和 ASTM E1181 標(biāo)準(zhǔn) |
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1.4 晶粒度評(píng)級(jí)與平面延伸度測(cè)定 |
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執(zhí)行 ASTM E1382-91 標(biāo)準(zhǔn) 參考 GB 4335-84 標(biāo)準(zhǔn) |
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1.5 晶粒度評(píng)級(jí)與空間延伸度測(cè)定 |
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執(zhí)行 ASTM E1382-91 標(biāo)準(zhǔn)（平均弦長(zhǎng)法） |
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1.6 混有珠光體的鐵素體----平均晶粒度評(píng)級(jí)（截線法） |
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執(zhí)行 ASTM E1382（各個(gè)弦長(zhǎng)法）標(biāo)準(zhǔn) |
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1.7 混有珠光體的鐵素體----平均晶粒度評(píng)級(jí)（平均弦長(zhǎng)法） |
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執(zhí)行 ASTM E1382（各個(gè)弦長(zhǎng)法）標(biāo)準(zhǔn) |
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1.8 混有珠光體的鐵素體——雙重晶粒度評(píng)級(jí) |
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執(zhí)行 ASTM E1382（各個(gè)弦長(zhǎng)法）和 ASTM E1181 標(biāo)準(zhǔn) |
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1.9混有珠光體的鐵素體——晶粒度評(píng)級(jí)與平面延伸度測(cè)定 |
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執(zhí)行 ASTM E1382-91 標(biāo)準(zhǔn) 參考 GB 4335-84 標(biāo)準(zhǔn) |
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1.10 混有珠光體的鐵素體——晶粒度評(píng)級(jí)與空間延伸度測(cè)定 |
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執(zhí)行 ASTM E1382-91 標(biāo)準(zhǔn)（平均弦長(zhǎng)法） |
