黑云母雙軸干涉圓偏光顯微鏡徠卡DM4P

讓物鏡轉盤來應對！

采用配備 6 個物鏡并具有不同放大倍率的物鏡轉盤，獲取豐富的樣品信息。

• 使用 2.5 倍概覽物鏡可識別樣品中的宏觀結構
• 如要借助錐光法對光學屬性進行詳盡研究，可切換為 63 倍放大倍率
• 切換至 100 倍可以沿顆粒邊界檢驗相反應

而且物鏡轉盤也是編碼的，可為您提供智能支持。

研究光學屬性

錐光法用于研究干涉圖。這些圖的形狀和由補償器進行的修改可以生成有關調查材料光學屬性方面的信息。您可以測定材料的光軸數(shù)量、光軸角度和光學特性。

Leica DM4 P 非常理想地適用于錐光法：

• 具有高放大倍率和高數(shù)值孔徑的無應力物鏡是該項應用的必備條件。
• 使用特殊 63 倍徠卡物鏡，能滿足偏振等級 5 的最高要求，從而獲取最佳結果。