HPS2523鍍膜真流電阻測(cè)試儀可方便地測(cè)試鍍膜的方阻（每平方厘米電阻量值）。HPS2523可用點(diǎn)測(cè)和面測(cè)兩種方式測(cè)試鍍膜的方阻，可更詳細(xì)地分析薄膜金屬化的質(zhì)量。

       海爾帕科技的同仁為了更準(zhǔn)確的方阻測(cè)量，從方阻測(cè)量的基本原理著手優(yōu)化了現(xiàn)有的的面測(cè)試方式，使得HPS2523鍍膜電阻測(cè)試儀測(cè)量更精準(zhǔn)，操作更簡(jiǎn)便。

主要技術(shù)規(guī)格：

電阻范圍： 測(cè)量范圍：  0Ω－99.99Ω，

           分辨率：  10mΩ（準(zhǔn) 確 度(20℃±10℃)：  ≤±（1%＋3個(gè)字）

方阻測(cè)量范圍：0——99.99Ω/cm²

測(cè)試電流：恒流1 mA /10mA /100 mA（自動(dòng)）

測(cè)量方式：點(diǎn)測(cè)量方式和面測(cè)量方式

應(yīng)用：

測(cè)量均勻平面薄層材料每平方厘米內(nèi)的電阻量值。