產品簡介
i-SpecTM系列是B&WTEK推出的高性價比寬光譜分析儀，系統可集成多種透射、反射等采樣附件，適應于實驗室和現場分析的需求。紫外-近紅外類產品使用TE致冷控溫CCD陣列檢測器和InGaAs陣列檢測器900-1700nm，近紅外類產品使用InGaAs陣列檢測器1100-2200nm檢測器，它們均可獲得Z佳的紫外和近紅外檢測靈敏度和動態范圍。
系列漫反射/漫透射分光光度計主要規格：
1.機身小巧便攜，堅固耐用
2.內部無移動部件，大大提高了儀器的重現性和抗震性
3.可選配多種專用光纖探頭，滿足不同檢測的需求
4.可選配充電電池模塊，便于野外使用
系列漫反射/漫透射分光光度計技術規格：
型號
BWS005
BWS015
BWS025
光譜儀
光譜范圍
400-2200 nm
350-1700 nm
1100-2200 nm
光譜分辨率（FWHM）
400-1100nm:25μm slit,4.0nm
1100-2200nm:75μm slit,13.0nm
350-1050nm:10μm slit,1.2nm
900-1700nm:50μm slit,5.0nm
75μm slit,13.0nm
動態范圍
400-1100nm:50000:1
1100-2200nm:13000:1（高動態范圍模式）
1100-2200nm:6250:1（高靈敏度模式）
350-1050nm:275:1
900-1700nm:13000:1（高動態范圍模式）
漫透射光譜儀系統
http://www.chem17.com/st15381/erlist_1156074.html
http://www.chem17.com/st15381/product_139656.html
