泰克TDS8000數字采樣示波器?
特點和優點?
□ DC 至50 GHz 帶寬*1
□ 杰出的觸發抖動和水平時基穩定性
□ 模塊化結構
□ zui多八條通道采集
□ 測量重復度
□ 完善、精確的自動測量系統
□ 直觀的用戶界面
－大型顯示器 (10.4 英寸)
－基于Microsoft Windows 的圖形用戶界面
*1 帶寬取決于插入模塊，將來在更高速的模塊上市時，帶寬可以超過50 GHz 。?

應用
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□ 半導體測試
□ 確定阻抗和串擾特點 (使用TDR)
□ 高速數字數據通信
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介紹
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TDS8000B 數字取樣示波器在超高帶寬示波器提供了zui廣泛的機載測量和波形處理功能。TDS8000B 具有杰出測量重復度、極高的垂直分辨率、快速波形采集和顯示更新速率，為半導體測試、確定電路板的TDR 特點、IC 包裝和電纜及高速數字通信測試提供了強大的測量工具。
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zui新的波形采集技術
TDS8000B 系列zui新的時基提供了從1.0ps/div 到5 ms/div 的等時掃描速度，記錄長度從20 點到4000 點，取樣間隔zui低為10 飛秒(0.01 ps)。此外，8000 系列取樣示波器的時基可以鎖定在10 MHz 參考時基，提供了更長時期的穩定性。
這種功能還允許多臺TDS8000B 與其它測試設備和/或被測器件同步化。TDS8000B提供了兩個放大窗口，因此可以以更高的分辨率重新采集主要軌跡的各個部分，更進一步查看信號細節。
TDS8000B 取樣示波器提供了zui高的取樣速率。它采用多處理器結構，每條通道都采用專用的數字信號處理器(DSP)，保障zui高的波形采集速率，而不管采集的通道數量或完成的波形處理。
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模塊化和靈活性
TDS8000 支持龐大、而且在不斷增長的一系列電和光插入模塊。通過這一模塊化結構，用戶可以在現在和將來，根據自己的應用為儀器配置適當的特性。
電插件包括各種模塊，這些模塊的帶寬zui高可達50 GHz ，具有確定阻抗和串擾特點使用的TDR 等專用特性。泰克還提供了高帶寬探頭，以構建整體采集解決方案。
光模塊為電信應用(155 Mb/s - 43 Gb/s)和數據通信應用(光纖通道、InfiniBand 和千兆位以太網)及通用光信號測試提供了zui完整的光通信測試解決方案。
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無可比擬的TDR 功能
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通過80E04 TDR 取樣模塊，TDS8000B 在zui多八條通道上同時提供了無可比擬的TDR 性能。每條通道都帶一個獨立的偏振可選的步進發生器，提供了無可比擬的35 ps 的反射上升時間*2 。TDS8000B 提供了當前市場*真正的差動TDR 系統。對步進振幅和基線偏移偏差的自動透明校正功能，保證了阻抗測量的精度和重復度。
*2 從短電路上觀察的反射上升時間。
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TDS8000 系列取樣示波器平臺
TDS8000B 基于泰克的取樣示波器平臺，它不僅提供了用戶熟悉的基于M SMindows 的PC 技術，還提供了世界*的波形采集技術。
這一平臺提供了廣泛的一系列標準儀器和通信接口(如GPIB 、并行打印機端口、RS-232-C 和USB 串口和以太網局域網連接)。此外，該平臺包括多個海量存儲設備(軟盤、可拆卸硬驅和光盤)。
TDS8000B 配有一個大型全彩色顯示器，可以幫助您區分波形細節。顏色漸變的波形數據可以在信號采集和分析中從第三個角度了解波形，即樣本密度。
泰克還作為選件提供了選通觸發功能，允許從被測的時期中排除選定的時間。
由于系統支持開放的MS Windows 環境，因此可以使用市場上提供的商用軟件，直接在儀器中完成全新的數據分析。
此外，標準軟件功能TekVISA TM 允許儀器處于儀器上運行的或連接儀器的外部PC工作站網絡上運行的應用軟件的控制之下(如LabView, LabWindows, Visual Basic,Microsoft Excel, C 等等)，而不需GPIB 硬件接口。泰克還提供了LabView 和其它程序使用的即插即用的驅動程序。
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泰克TDS8000 系列取樣示波器電模塊
80E01 取樣模塊－80E01 是一種單通道，50 GHz 帶寬的取樣模塊。80E01 具50 GHz或更高的被測帶寬及小于等于7.0 ps 的計算上升時間。顯示的噪聲一般為1.8mV RMS 。前面板連接器采用2.4mm 插座，并提供了一個適配器(011-0157-00; 2.4 mm 插頭到2.92 mm 插座)，以保持兼容SMA 連接器
80E02 低噪聲取樣模塊－80E02 是一種為數字通信和設備測試應用中低噪聲測量專門設計的雙通道、12.5 GHz 取樣模塊。它提供了28 ps 的采集上升時間和400mV RMS的典型顯示噪聲。80E02 為低噪聲應用提供了理想的儀器。80E02 的常見應用是捕獲和顯示高速通信電路的交換特點，它可以精確地統計測量信號噪聲和信號定時抖動，或獲得快速數字IC 的穩定定時指
80E03 取樣模塊－80E03 是一種雙通道20GHz 取樣模塊。這一取樣模塊提供了小于等于17.5 ps 的采集上升時間。
80E04 TDR 取樣模塊－80E04 是一種具有TDR 功能的雙通道20 GHz 取樣模塊。這一取樣模塊提供了小于等于17.5 ps 的采集上升時間及20 GHz 的典型同等帶寬。TDR功能提供了高分辨率及真正的差動功能。
80E06 取樣模塊－80E06 是一種單通道，70 GHz 帶寬的取樣模塊，是目前世界上帶寬zui高的數字采樣模塊。
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泰克TDS8000 系列取樣示波器光模塊
80C01 多速率電信取樣模塊 －80C01 模塊支持對622 、2488 和9953 Mb/s 速率的長波長 (1100 - 1650 nm) 信號進行波形一致性測試，及以高達20 GHz 的光帶寬進行通用測試。在配備時鐘恢復選件時，80C01 為622 和2488 Mb/s 電信應用提供了完整的測試解決方案。
80C02 高性能電信取樣模塊－80C02 模塊是為了測試9.953 Gb/s(SONET OC-192/SDHSTM-64)速率的長波長(1100 to 1650 nm)信號而優化的。由于28 GHz 或更高的高光接口帶寬，它還特別適合執行通用的高性能光器件測試。80C02 可以選配支持9.953 Gb/s 電信標準的時鐘恢復功能。
80C03 多速率高靈敏度數據通信取樣模塊－80C03 模塊支持對速率為1.063, 1.250和2.488 Mb/s 的短波長和長波長(700-1650 nm)信號執行波形一致性測試，同時支持以高達2.3 GHz 光帶寬執行通用測試。其放大光電轉換器設計，允許用戶檢查極低層的光信號。80C03 可以選配支持光纖通道1063 (1.063 Gb/s)、千兆位以太網(1.250 Gb/s)和OC-48/STM-16 (2.488 Gb/s)標準的時鐘恢復功能。
80C04 具有前向糾錯功能的高性能電信取樣模塊－80C04 模塊是為測試9.953Gb/s 或10.664 Gb/s 速率的長波長(1100 -1650nm)信號而優化的。由于其28 GHz 或更高的高光帶寬，它還特別適合通用的高性能光器件測試。80C04 可以選配支持9.953 Gb/s 電信標準的時鐘恢復功能或9.953 Gb/s 和10.664 Gb/s 雙速率時鐘恢復功能。
80C05 40 GHz 光取樣模塊－80C05 模塊是為測試40 Gb/s 及以下速率的長波長(1530- 1580 nm)電信信號而優化的。80C05 提供了可以選擇的帶寬，允許用戶選擇zui優的噪聲和帶寬性能，精確地確定信號的特點。由于其高光通信帶寬(40 GHz)，它還特別適合進行通用的高性能光器件測試。
80C06 50 GHz 光取樣模塊－80C06 模塊是為測試長波長(1520 - 1580 nm)高功率、高帶寬光信號而優化的，其一般是40 Gb/sNRZ 和RZ 系統傳輸測試。由于其高光通信帶寬(50 GHz)，它還特別適合進行通用的高性能光器件測試。
80C07B 多速率電信光取樣模塊－80C07 模塊是支持一系列波長(700 - 1650 nm)，為測試155.52 - 2488.32 Mb/s 電信信號而優化的多速率光取樣模塊。由于其放大光電轉換器設計，這一模塊提供了完美的信噪比性能，允許用戶檢查低功率光信號。80C07 可以選配支持155,622 和2488Mb/s 速率的時鐘恢復功能。
80C08C 10 GbE 數據通信光取樣模塊－80C08 模塊是支持一系列波長(700 - 1650nm)的光取樣模塊，為10.3125 Gb/s (10 GBASE-R)或9.95328 Gb/s(10 G BASE-W)速率的10 GbE 應用提供了完整的測試解決方案。由于其放大光電轉換器設計，這一模塊提供了完美的信噪比性能和極高的光靈敏度，允許用戶檢查低功率光信號。80C08 可以選配支持9.953 Gb/s 和10.3125Gb/s 速率的時鐘恢復功能。
80C09 具有G.709 前向糾錯功能的高性能電信光取樣模塊－80C09 模塊是為測試9.953 Gb/s 或10.709 Gb/s 速率的長波長(1100 - 1650 nm)信號而優化的。由于其28 GHz 或更高的高光帶寬，它特別適合進行通用的高性能光器件測試。80C09 可以選配支持9.953 和10.709 Gb/s 速率的時鐘恢復功能。