SEM電鏡 SEM實(shí)驗(yàn) SEM電鏡掃描分析

SEM電鏡，SEM實(shí)驗(yàn)，SEM電鏡掃描分析。

深圳市賽特檢測(cè)有限公司（STT）是中國(guó)第三方檢測(cè)與驗(yàn)證服務(wù)的開(kāi)拓者和領(lǐng)先者，幫助眾多行業(yè)和企業(yè)提供一站式的全面質(zhì)量解決方案。擁有CNAS，CMA，出具國(guó)家認(rèn)可的檢測(cè)報(bào)告，華南第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)，深圳權(quán)威檢測(cè)機(jī)構(gòu)。為您的產(chǎn)品提供以下檢測(cè)服務(wù)：

SEM掃描電鏡檢測(cè)

【項(xiàng)目詳細(xì)說(shuō)明】

SEM的工作原理是用一束極細(xì)的電子束掃描樣品，在樣品表面激發(fā)出次級(jí)電子，次級(jí)電子的多少與電子束入射角有關(guān)，也就是說(shuō)與樣品的表面結(jié)構(gòu)有關(guān)，次級(jí)電子由探測(cè)體收集，并在那里被閃爍器轉(zhuǎn)變?yōu)楣庑盘?hào)，再經(jīng)光電倍增管與放大器轉(zhuǎn)變?yōu)殡娦盘?hào)來(lái)控制熒光屏上電子束的強(qiáng)度，顯示出和電子束同步的掃描圖像，圖像為立體形象，反映了標(biāo)本的表面結(jié)構(gòu)。

STT設(shè)備能滿足直徑為0～200mm（8〞wafer）的試樣，放大倍率：×5～×300,000。

適用產(chǎn)品：陶瓷、高分子、粉末、環(huán)氧樹(shù)脂、地質(zhì)、冶金、礦物、污泥（桿菌） 、機(jī)械、電機(jī)及導(dǎo)電性樣品，如半導(dǎo)體(IC、線寬量測(cè)、斷面、結(jié)構(gòu)觀察……）電子材料等等,

測(cè)試范圍：
*金屬、陶瓷、礦物、水泥、半導(dǎo)體、紙張、塑料、食品、農(nóng)作物等材料的顯微形貌、晶體結(jié)構(gòu)和相組織的觀察與分析。
*各種材料微區(qū)化學(xué)成分的定性和定量檢測(cè)；金屬材料牌號(hào)的確定。
* 機(jī)械零部件、電子元器件失效分析。
*粉末、微粒納米樣品形態(tài)和粒度的測(cè)定。
* 復(fù)合材料界面特性的研究。
*表面微量污染物、異物及其來(lái)源分析。
*表面鍍層成分、鍍層厚度與結(jié)構(gòu)分析。

分辨率高，放大倍數(shù)范圍廣，可以從幾倍到幾十萬(wàn)倍，連續(xù)可調(diào)，便于尋找缺陷并建立微觀形貌和宏觀形貌之間的聯(lián)系。景深大，有很強(qiáng)的立體感，適于觀察像斷口那樣粗糙的表面。加配能譜儀和波譜儀后，可同時(shí)進(jìn)行成分分析。

STT測(cè)試項(xiàng)目除了SEM實(shí)驗(yàn)，還有 - 防塵防水測(cè)試，導(dǎo)熱測(cè)試，離子污染度測(cè)試，耐破測(cè)試，邊壓測(cè)試，抗壓測(cè)試，振動(dòng)測(cè)試，跌落測(cè)試，高低溫測(cè)試，機(jī)械沖擊測(cè)試，金屬材料拉力測(cè)試，卡板動(dòng)態(tài)載荷試驗(yàn)，靜態(tài)載荷試驗(yàn)，堆碼試驗(yàn)，剪切試驗(yàn)，角跌落試驗(yàn)，墊壞沖擊試驗(yàn)，底鋪板撓度試驗(yàn)，含水率，膠合強(qiáng)度，緩沖材料拉伸性能，膠帶測(cè)試，初粘性測(cè)試，持粘性測(cè)試，金相分析，材料分析，飲用水檢測(cè)，螺絲扭力測(cè)試，鹽霧測(cè)試。

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