二次離子質(zhì)譜儀測(cè)試SIMS測(cè)試SIMS檢測(cè)報(bào)告SIMS測(cè)試方法

二次離子質(zhì)譜儀/SIMS測(cè)試介紹

測(cè)試內(nèi)容

材料成分鑒定及相結(jié)構(gòu)

測(cè)試方法

對(duì)薄膜，材料表面、界面的元素、分子等結(jié)構(gòu)進(jìn)行分析；

分析深度:表面1-10nm，剖面分析：2-20nm，檢出限：1012-1016at/cm3

樣品要求

非水份或不含水份及揮發(fā)性物質(zhì)的固體樣品，粉末樣品以工程師確認(rèn)結(jié)果而定。

樣品尺寸：Max. 4*4*3.5cm

測(cè)試周期

7個(gè)工作日

STT檢測(cè)擁有一支高學(xué)歷高素質(zhì)專(zhuān)家團(tuán)隊(duì)，具備豐富的環(huán)境可靠性試驗(yàn)工程技術(shù)、失效分析技術(shù)、理化檢測(cè)技術(shù)研究及實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)，嚴(yán)格按照CNAS認(rèn)可委的要求建設(shè)實(shí)驗(yàn)室，并依據(jù)ISO/IEC17025：2006進(jìn)行實(shí)驗(yàn)室管理，遵循“公正、科學(xué)、準(zhǔn)確、高效”的準(zhǔn)則，依照IEC、ISO、IEEE、MIL、ASTM、J-STD、GJB、GB、SJ等國(guó)際、國(guó)內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)，為企業(yè)提供專(zhuān)業(yè)檢測(cè)技術(shù)服務(wù)。

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