TEM測試介紹

TEM測試原理

透射電子顯微鏡（縮寫TEM），簡稱透射電鏡，是把經加速和聚集的電子束投射到非常薄的樣品

上，電子與樣品中的原子碰撞而改變方向，從而產生立體角 散射。散射角的大小與樣品的密度、

厚度相關，因此可以形成明暗不同的影像。

TEM測試方法

用于材料的超微結構觀察及成分分析，檢出限：0.5%

產品范圍 0

1.金屬、非金屬及復合材料的觀察分析；

2.納米粉及納米粉體的形貌觀察和粒度測量統計；

3.微區成分的定性、定量計算，并對重點區域做元素分布圖；

4.可對固體材料的表面涂層、鍍層進行結合情況觀察和厚度測量；

5.機械設備、壓力容器、管道及汽車零件的失效分析。

我們STT嚴格按照CNAS認可委的要求建設實驗室，并依據ISO/IEC17025：2006進行實驗室管理，遵循“公正、科學、準確、高效”的準則，依照IEC、ISO、IEEE、MIL、ASTM、J-STD、GJB、GB、SJ等國際、國內標準，為企業提供專業檢測技術服務。

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