電子元器件檢測 電子元件失效分析 芯片粘結強度測試 CT檢測

電子元器件檢測及失效分析

測試項目

開封 取晶粒 掃描電鏡檢查 X射線透視檢查

CT檢測（3D X射線透視檢查） 超聲波掃描檢查（C-SAM）

微光顯微鏡（EMMI） 探針應用 芯片粘結強度

I-V曲線量測 引線鍵合服務 引線鍵合強度 LCR應用

參考標準

MIL-STD 883G-2006
GJB 548B-2005
J-STD-035

JISZ 3197

根據客戶產品規格書

我們STT檢測擁有一支高學歷高素質專家團隊，具備豐富的環境可靠性試驗工程技術、失效分析技術、理化檢測技術研究及實踐經驗，嚴格按照CNAS認可委的要求建設實驗室，并依據ISO/IEC17025：2006進行實驗室管理，遵循“公正、科學、準確、高效”的準則，依照IEC、ISO、IEEE、MIL、ASTM、J-STD、GJB、GB、SJ等國際、國內標準，為企業提供專業檢測技術服務。

深圳市賽特檢測有限公司歡迎廣大客戶來電咨詢業務！