阻抗分析儀IM7583

       阻抗分析儀IM7583，阻抗分析儀能在阻抗范圍和寬頻率范圍進行精確測量，它利用物體具有不同的導電作用，在物體表面加一固定的低電平電流時，通過阻抗計算出物體的各種器件、設備參數和性能優劣。日置阻抗分析儀IM7583高速、高穩定性測量，提高生產量。日置HIOKI電學測試產品是本公司強項品牌，價格非常有優勢歡迎詢價！

 阻抗分析儀IM7583

一、高速、高穩定性測量，提高生產量！

1、測量時間：最快0.5ms

2、測量頻率：1MHz~600MHz

3、測量時間：最快0.5ms（模擬測量時間)

4、基本精度：±0.65% rdg

5、緊湊主機僅機架一半大小，測試頭僅手掌大小

6、豐富的接觸檢查功能（DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定)

7、使用分析功能在掃描測量頻率、測量信號電平的同時進行測量

8、主機不帶測試治具。需要使用阻抗分析儀專用的測試治具

二、基本參數：

三、阻抗分析儀IM7580系列產品功能：

（1）等效電路分析功能

    能夠以測量結果為基礎推測5種等效電路模式的常數。 而且，可以通過模擬功能，使用推測結果或者任意的常數來顯示頻率特性的理想值。 此外，使用比較器功能，還能夠確定測量結果是否在判定區域內。

（2）使用SMD治具IM9201進行LCR測量

IM7580系列5種機型的測量頻率覆蓋了1MHz?3GHz。和用于6種尺寸SMD的測試治具IM9201組合使用，能夠簡單準確的測量樣品。

（3）區域判定功能：

    分析模式的比較器功能中，可以確定測量值是否進入了任意設置的判定區域內。 “區域判定功能”是設置上限值和下限值的范圍，并以IN/NG來顯示判定結果。

（4）峰值判定功能：

     分析模式的比較器功能中，可以確定測量值是否進入了任意設置的判定區域內。“峰值判定功能”是以上限值、下限值、左限制、右限值來設置范圍，并以IN/NG來顯示測量的峰值是否在判定區域內。

（5）SPOT判定功能：

分析模式的比較器功能中，可以確定測量值是否進入了任意設置的判定區域內。:“SPOT判定功能”是選擇任意的掃描點和參數，最多進行16點的判定。

（6）比較器功能：

使用比較器功能，可以確定測量值是否進入了任意設置的判定區域內。:適用于判定樣品是否合格的功能。

（7）接觸檢查功能：

使用接觸檢查功能，能夠檢查樣品和測量端口的接觸狀態，并確認接觸不良情況和連接狀態。

（8）測試頭的連接方法

測試頭的連接線連接阻抗分析儀。稍微彎曲扭力扳手的手柄后擰緊螺母（0.56 N?m）。請注意不要擰過頭。

四、主要用途：

1、電子元件生產廠家內的電子元件的出貨檢查和特性評估

2、電子設備生產廠家內的電子元件的驗貨檢查和特性評估

3、高校研究所內的電子元件的特性評估

本公司承各類電子儀器產品代理等服務，如有需要可撥打優惠熱線：
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