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抵御惡劣環(huán)境的能力
45MG超聲波測厚儀提供需密碼激活的5個軟件選項，從而躋身于工業(yè)領域中用途最廣泛的超聲波測厚儀行列。
回波到回波/穿透涂層：（U8147021）使用回波到回波選項，儀器屏幕上會顯示金屬的實際厚度，而涂層的厚度會被忽略。穿透涂層選項測量金屬厚度與非金屬涂層的厚度，這兩個厚度都根據(jù)它們各自正確的材料聲速值得到了調整。因此，在進行厚度測量時，無需去掉材料表面的漆層或涂層。
單晶：（U8147022)這個選項可對很多材料，如：金屬、塑料、復合材料、玻璃及陶瓷，進行非常精確的厚度測量。這個選項可與范圍在2.25 MHz到30 MHz的單晶Microscan探頭相兼容。
單晶高穿透：(U8147023)這個選項可對較厚或衰減性較高的材料，如：玻璃纖維或鑄造金屬，進行厚度測量?？膳c范圍在0.5 MHz到30 MHz的單晶Microscan探頭相兼容。這個選項包含單晶選項。
數(shù)據(jù)記錄器：(U8147020)45MG超聲波測厚儀帶有一個功能齊全的內置雙向字母數(shù)字式數(shù)據(jù)記錄器，可方便地存儲和傳輸厚度讀數(shù)和波形數(shù)據(jù)。這個選項包含基于Windows的GageView接口程序。
帶有波形調整功能的實時A掃描：(U8147019) 用戶使用這個可選實時A掃描模式，可以在測厚儀的顯示屏上直接查看超聲波形（或稱A掃描），核查厚度測量讀數(shù)，對增益和空白設置進行手動調整，以在具有挑戰(zhàn)性的應用中最大限度地增強測量性能。這個極為有益的選項包含手動增益調整、擴展空白、首個回波空白、范圍及延遲參數(shù)。
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測量 |
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雙晶探頭測量模式 |
從激勵脈沖后的精確延遲到第一個回波之間的時間間隔。 |
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自動回波到回波（可選） |
在兩個連續(xù)底面回波之間的時間間隔，不計漆層或涂層的厚度。 |
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穿透涂層測量 （可選） |
利用單個底面回波，測量金屬的實際厚度和涂層厚度（使用D7906-SM和D7906探頭） |
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單晶探頭測量模式（可選） |
模式1：激勵脈沖與第一個底面回波之間的時間間隔。 |
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厚度范圍 |
0.080 mm～635 mm（0.003 in.～25.0 in.）視材料、探頭、表面條件、溫度和所選配置而定（要測量最全的范圍需要使用單晶選項） |
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材料聲速范圍 |
0.508 mm/μs～18.699 mm/μs（0.020 in./μs～0.7362 in./μs） |
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分辨率（可選擇） |
低分辨率：0.1毫米（0.01英寸） |
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探頭頻率范圍 |
標準：2.25 MHz～30 MHz（-3 dB）高穿透（單晶選項）：0.50 MHz～30 MHz（-3 dB） |
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一般規(guī)格 |
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操作溫度范圍 |
-10 °C～50 °C（14 °F～122 °F） |
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鍵盤 |
密封、以色彩區(qū)分功能的鍵盤，帶有觸感及聲音反饋 |
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機殼 |
防撞擊、防水、裝有密封墊的機殼，機殼上的接口密封。設計符合IP67標準。 |
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外型尺寸（寬 x 高 x 厚） |
總體尺寸：91.1 mm x 162 mm x 41.1 mm |
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重量 |
430.9克 |
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電源 |
3節(jié)AA電池/USB電源供應 |
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電池工作時間 |
3節(jié)AA堿性電池：20到21小時 |
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標準 |
設計符合EN15317標準 |
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顯示 |
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彩色透反QVGA顯示 |
液晶顯示，顯示屏尺寸：54.61毫米 x 41.15毫米 |
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檢波 |
全波、RF波、正半波、負半波（波形選項） |
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輸入/輸出 |
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USB |
2.0從接口 |
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存儲卡 |
最大容量：2 GB可插拔MicroSD存儲卡 |
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內置數(shù)據(jù)記錄器（可選） |
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數(shù)據(jù)記錄器 |
45MG通過USB或MicroSD卡識別、存儲、調用、清除及傳輸厚度讀數(shù)、波形圖像和儀器配置信息。 |
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容量 |
475000個厚度測量讀數(shù)，或20000個帶厚度值的波形 |
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文件名稱和ID編碼 |
32位字符的文件名，20位字符的字母數(shù)字位碼 |
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文件結構 |
6個標準的或自定義的用于特定應用的文件結構 |
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報告 |
機載報告總結了數(shù)據(jù)統(tǒng)計和最小值/最大值
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