美國GE無損檢測超聲波探傷儀USM 35X

關(guān)于USM 35X超聲波探傷儀

USM35設(shè)計(jì)了非常堅(jiān)固的外殼，使這一探傷儀更加經(jīng)久耐用，即使在惡劣環(huán)境下也能得到有效保護(hù)。IP級別對應(yīng)的是根據(jù)IEC529:1989規(guī)定的外殼所提供的保護(hù)程度。
IP66指的是灰塵和水不能進(jìn)入設(shè)備內(nèi)部，就是說哪怕是遭遇大雨，海浪以及任意方向來的強(qiáng)大濺水，設(shè)備也能得到完全的保護(hù)。
新讀數(shù)
可顯示于門一起記錄的3種新讀數(shù)
?顯示DAC/TCG掃描方式中相對參考增益的dB差值（在USM35X DAC和USM35X S中）
?DGS參考增益（在USM35X S中）
?根據(jù)JIS Z3060標(biāo)準(zhǔn)分級的缺陷類型（在USM35X DAC和USM35X S中）
技術(shù)參數(shù)
校準(zhǔn)范圍：
最小:0-0.5mm+10%(鋼)；0-0.02”+10%(鋼)
最大:0-9999mm+10%(鋼)；0-390”+10%(鋼),頻率范圍在0.2到1MHz/1420mm+10%(鋼)為0.5到4MHz；0-56”+10%(鋼),頻率范圍
在0.8到8MHz/2到20MHz
聲速：1000-15000m/s,40-600inch/ms,以1m/s、0.1inch/ms步進(jìn)和固定程序的數(shù)值進(jìn)行變化。
顯示延遲：
從-10到1000mm，-0.3到40”（340μs）
探頭延遲：0-200μs
自動(dòng)校準(zhǔn)：使用兩個(gè)已知校準(zhǔn)回波（兩點(diǎn)校準(zhǔn)）進(jìn)行校準(zhǔn)以及聲速和探頭延遲的設(shè)置。
脈沖強(qiáng)度：220pF,1nF
阻尼：50ohms,500ohms(TR模式下為1000ohms)
脈動(dòng)重復(fù)頻率：4-1000Hz，10步變量
頻率范圍（-3dB）：0.2至1MHz/0.5至4MHz/0.8至8MHz/2至20MHz
增益：0到110dB，按不同步進(jìn)
增益步長：0.5/1/2/6/12dB(或用戶可調(diào)整),步驟0被鎖定。
增益微調(diào)：4dB，40步持續(xù)變量。
檢波方式：全波，負(fù)和正半波，RF模式
抑制：線性，0-80%屏幕高度；1%步進(jìn)速度
監(jiān)控閘門：兩個(gè)彩條模式的獨(dú)立閘門，起始點(diǎn)和寬度可以在整個(gè)校準(zhǔn)范圍內(nèi)進(jìn)行調(diào)節(jié)，屏幕高度為10-90%的響應(yīng)門檻以1%的速度進(jìn)行改變（重合和反重合），通過LED和相關(guān)的內(nèi)部揚(yáng)聲器發(fā)出警告信號，A門可以作為B門的界面閘門，閘門放大（在整個(gè)顯示范圍內(nèi)對閘門范圍放大）。
聲程測量：始波到第一次回波（水平距離，深度）或者兩個(gè)閘門之間的回波聲程數(shù)字顯示，測量方式為波前或波峰。
測量精度：99.99mm范圍內(nèi)的精度為0.01mm/從100至于999.9mm范圍內(nèi)的精度為0.1mm/
超過1000mm的精度為1mm，9.999”范圍內(nèi)的精度為0.001”/超過10”的精度為0.01”
在凍結(jié)的A掃描中的評估：0.5%的校準(zhǔn)范圍設(shè)置
幅度顯示：屏幕高度用百分比
優(yōu)點(diǎn)：
從電腦工業(yè)的電池概念中進(jìn)行了創(chuàng)新，令您的日常工作更加輕松：充電式鋰電池組讓您可以將檢測持續(xù)至少14小時(shí)。充電可以在儀器內(nèi)部輕松進(jìn)行，您只需將電池充電器接上USM35X過夜即可。在無交流電源的情況下，如電池耗盡，您也可以使用6節(jié)普通C（二號）電池。