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38DL PLUS測厚儀是一款開創超聲測厚技術新時代的創新型儀器。這款手持式測厚儀可完美地適用于幾乎所有超聲測厚應用，而且與所有雙晶和單晶探頭完全兼容。功能齊全的38DL PLUS測厚儀可用于各種應用，包括使用雙晶探頭對內壁腐蝕的管件進行的管壁減薄的測量，以及使用單晶探頭對薄壁或多層材料進行的極其精確的壁厚測量。
38DL PLUS測厚儀的一個主要應用是測量那些受腐蝕或侵蝕的管道、管件、箱體、壓力容器、外殼及其他結構的剩余厚度。這些應用中最常使用的是雙晶探頭。
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測量 |
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雙晶探頭測量模式 |
從激勵脈沖后的精確延遲到第一個回波之間的時間間隔。 |
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自動回波到回波（可選） |
在兩個連續底面回波之間的時間間隔，不計漆層或涂層的厚度。 |
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穿透涂層測量 （可選） |
利用單個底面回波，測量金屬的實際厚度和涂層厚度（使用D7906-SM和D7906探頭） |
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單晶探頭測量模式（可選） |
模式1：激勵脈沖與第一個底面回波之間的時間間隔。 |
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厚度范圍 |
0.080 mm～635 mm（0.003 in.～25.0 in.）視材料、探頭、表面條件、溫度和所選配置而定（要測量全的范圍需要使用單晶選項） |
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材料聲速范圍 |
0.508 mm/μs～18.699 mm/μs（0.020 in./μs～0.7362 in./μs） |
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分辨率（可選擇） |
低分辨率：0.1毫米（0.01英寸） |
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探頭頻率范圍
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標準：2.25 MHz～30 MHz（-3 dB）高穿透（單晶選項）：0.50 MHz～30 MHz（-3 dB）
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