菲希爾Couloscope CMS2 庫(kù)侖法測(cè)厚儀

菲希爾Couloscope CMS2 庫(kù)侖法測(cè)厚儀

簡(jiǎn)介：
COULOSCOPE CMS2 測(cè)試儀器是一個(gè)功能非常強(qiáng)大而操作比較簡(jiǎn)便的儀器。使用時(shí)的一個(gè)原則是
多看顯示屏上的提示，根據(jù)它的提示一步一步地去做，這往往事半功倍；其二，要注意軟鍵功能的
變化，在不同的程序中有不同的功能；其三，許多功能都是由 MENU 菜單來(lái)開(kāi)啟，隨后皆有提示，可
按部就班的進(jìn)行。 
一、測(cè)量界面說(shuō)明 
屏幕右上角顯示當(dāng)前時(shí)間，下面依次顯示當(dāng)前應(yīng)用程式的信息：例如最薄可測(cè)厚度 thmin＝
0.30um，電解速度 Deplating rate 2.00um/min，修正系數(shù) Corr.fact：1.00。 
中間左半部分是當(dāng)前應(yīng)用程式的形象圖解說(shuō)明，右半部分顯示測(cè)量數(shù)值。 
最下面一行顯示當(dāng)前應(yīng)用程式的編號(hào)和名稱，例如 Appl20：APPL.NO.20，數(shù)據(jù)總數(shù) N_tot＝15。 
    右邊為相應(yīng)軟鍵的功能，按 BLOCK RES.可以顯示單個(gè)數(shù)據(jù)組的統(tǒng)計(jì)值；按 EVALUATE 可以查看
單個(gè)或多個(gè)數(shù)據(jù)組的統(tǒng)計(jì)值以及 SPC 圖、Σ圖；用上下箭頭可以翻看測(cè)量數(shù)據(jù)。 
 
二、基本操作 
1．設(shè)立應(yīng)用程式例如 0.5umCr/4umNi/10umCu/Fe：  
   MENU→在應(yīng)用程式欄中選擇新建應(yīng)用程式（0）→挑一個(gè)空的序號(hào)，例如 5 即輸入數(shù)字 5→ENTER
→用上下箭頭選擇鍍層數(shù) Select number of coatings，例如 3 coatings→確認(rèn)→選擇測(cè)量頂
層鍍層 Cr/Ni 的應(yīng)用程式和電解速度（電解速度根據(jù)實(shí)際鍍層厚度選擇，一般電解時(shí)間控制在 1
分鐘左右），按 PAGE 軟鍵可以翻頁(yè)，依據(jù)本例選 16 即輸入數(shù)字 16→確認(rèn)→選擇墊圈 gasket 的
尺寸，例如ф1.5mm（yellow）→確認(rèn)→選擇測(cè)量中間層 Ni/Cu 的應(yīng)用程式 43，輸入數(shù)字 43→
確認(rèn)→選擇墊圈 gasket 的尺寸，注意：同一個(gè)應(yīng)用程式，只能用一種墊圈尺寸，所以還選ф1.5mm
（yellow）→確認(rèn)→選擇測(cè)量里層鍍層 Cu/Fe 的應(yīng)用程式 33，輸入數(shù)字 33→確認(rèn)→選擇墊圈
gasket 的尺寸ф1.5mm（yellow）→確認(rèn)，這時(shí)可以看到剛才建立應(yīng)用程式的信息，請(qǐng)核對(duì)是否
正確，按 ENTER 鍵可以跳到下一個(gè)項(xiàng)目，按數(shù)字 2，8 鍵可以切換當(dāng)前選項(xiàng)→確認(rèn)→這時(shí)可以更
改應(yīng)用程式的名稱，按數(shù)字 2，4，6，8 鍵可以選擇所需字符，按 ENTER CHAR 軟鍵可以輸入選
定字符→CONFIRM，回到測(cè)量狀態(tài)，應(yīng)用程式已建立。 

→ Fischer菲希爾Couloscope CMS2測(cè)厚儀 （庫(kù)侖測(cè)量系統(tǒng)）使用庫(kù)侖方法測(cè)量鍍層厚度。配備了一個(gè)大的，易讀取的液晶顯示器，直觀的菜單指引系統(tǒng)，該儀器理想的適用于測(cè)量幾乎所有的金屬基材或非金屬基材上的金屬鍍層的厚度，包括多鍍層。使用在不能進(jìn)行或不需要進(jìn)行非破壞性測(cè)試方法的場(chǎng)合。
 
→ Fischer菲希爾Couloscope CMS2測(cè)厚儀 精確地測(cè)量范圍在0.05 - 40 μm （0.002 - 1.6 mils）之間的金屬鍍層。該設(shè)備可以存儲(chǔ)上百條預(yù)先定義好的鍍層/基材應(yīng)用，從單鍍層，例如鋅在鋼上，直至三鍍層，例如鉻層在鎳層再在銅層或塑料上。

→ 用來(lái)測(cè)定多層鎳鍍層系統(tǒng)中各個(gè)單個(gè)的鍍層厚度以及各鍍層之間的電化學(xué)電位差。在電鍍工業(yè)中，對(duì)多層鎳的測(cè)量變得越來(lái)越重要了，雙層鎳的測(cè)量已成為一種標(biāo)準(zhǔn)的操作。