（高溫運行、高溫貯存）的目的是確定軍民用設(shè)備、零部件在常溫條件下儲存和工作的儲存、使用的適應(yīng)性及耐久性。確認材料高溫下的性能。

為能正確觀察與驗證產(chǎn)品在高溫環(huán)境下之熱效應(yīng)，同時避免因濕度效應(yīng)影響試驗結(jié)果，標準中對于試驗前處理、試驗初始檢測、樣品安裝、中間檢測、試驗后處理、升溫速度、溫度柜負載條件、被測物與溫度柜體積比等均有規(guī)范要求。

高溫條件下試件的失效模式 產(chǎn)品所使用零件、材料在高溫時可能發(fā)生軟化、效能降低、特性改變、潛在破壞、氧化等現(xiàn)象。

   高溫環(huán)境對設(shè)備的主要影響有：

a. 填充物和密封條軟化或融化；

b. 潤滑劑粘度降低，揮發(fā)加快，潤滑作用減小；

c. 電子電路穩(wěn)定性下降，絕緣損壞；

d. 加速高分子材料和絕緣材料老化，包括氧化、開裂、化學反應(yīng)等；

e. 材料膨脹造成機械應(yīng)力增大或磨損增大。

參考標準

IEC 60068-2-2:2007《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B：高溫》

GJB128A-97 《半導(dǎo)體分立器件試驗方法》

MIL-STD-810F《環(huán)境工程考慮與實驗室試驗》

GJB4.2-83《艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗 高溫試驗》

GJB360A-96 電子及電氣元件試驗方法 方法108高溫壽命試驗

MIL-STD-202F《電子及電氣元件試驗方法》

GJB548A-96 《微電子器件試驗方法和程序》

MIL-STD-883D 《微電子器件試驗方法和程序》

SJ/T 10325-92《汽車收放機環(huán)境試驗要求和試驗方法》4.1 高溫負荷試驗

SJ/T 10325-92《汽車收放機環(huán)境試驗要求和試驗方法》4.2 高溫貯存試驗

GB/T13543-92《數(shù)字通信設(shè)備環(huán)境試驗方法》

QC/T 413-2002《汽車電氣設(shè)備基本技術(shù)條件》

YD/T 1591-2009《移動通信手持機充電器及接口技術(shù)要求和測試方法》

 深圳市賽特檢測有限公司（簡稱STT）是國內(nèi)較早開展環(huán)境可靠性工程檢測技術(shù)的研究與應(yīng)用的專業(yè)第三方檢測服務(wù)機構(gòu)，經(jīng)過十數(shù)年的發(fā)展，已成為集環(huán)境可靠性測試、機械可靠性測試、包裝運輸測試、材料測試、電磁兼容測試、安規(guī)、失效分析、理化檢測等項目為一體的綜合性檢測服務(wù)機構(gòu)。現(xiàn)有規(guī)模、測試能力和水平處于國內(nèi)檢測機構(gòu)的領(lǐng)先水平，并培養(yǎng)出一批高素質(zhì)檢測工程師人員，積累了豐富的檢測經(jīng)驗。
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