普洛帝P-III的表面顆粒物檢測儀系列通過以下技術(shù)實現(xiàn)電子半導(dǎo)體行業(yè)表面污染的量化監(jiān)測和控制：
核心技術(shù)原理
界面顆粒再懸浮技術(shù)?：采用先進(jìn)界面技術(shù)，通過物理或氣流方式將附著在關(guān)鍵
表面的顆粒重新懸浮，便于后續(xù)檢測。
高精度光學(xué)檢測：基于激光光學(xué)傳感器和光散射原理，實時捕獲懸浮粒子的散
射光信號，實現(xiàn)單個粒子尺寸的精確分析。
關(guān)鍵性能指標(biāo)
分辨率達(dá)0.1微米，支持納米級顆粒檢測；
配備靜態(tài)采樣模式，提升測量精度和穩(wěn)定性；符合ISO-14644-9表面粒子控制標(biāo)準(zhǔn)，
滿足半導(dǎo)體制造中對潔凈度的嚴(yán)苛要求
行業(yè)應(yīng)用優(yōu)勢
減少50以上的自凈時間及顆粒數(shù)，縮短PM周期，提升制造效率；
通過實時監(jiān)測表面污染，降低因顆粒導(dǎo)致的良率損失和可靠性風(fēng)險；
適用于晶圓、光學(xué)元件、精密電路板等對潔凈度敏感的生產(chǎn)環(huán)節(jié)。
系統(tǒng)集成設(shè)計
支持USB數(shù)據(jù)導(dǎo)出和軟件升級，便于與工廠智能管理系統(tǒng)對接；
采用雙電池?zé)岵灏卧O(shè)計，適應(yīng)連續(xù)生產(chǎn)環(huán)境的需求。
該系列設(shè)備通過量化表面污染數(shù)據(jù)，為半導(dǎo)體制造中的過程控制提供標(biāo)準(zhǔn)化依據(jù)，從而優(yōu)化生產(chǎn)良率和產(chǎn)品可靠性。
傳感器：第七代雙激光窄光檢測器，壽命>200000次

測量粒徑:
A 0.3um、2.5um、10um;
B 0.3um、(0.5/1.0/2.5/5.0）um、10um;
C0.3um、0.5um、1.0um、2.5um、5.0m、10um;
D 0.5um、1.0um、1.5um、2.0um、2.5um、3.0um;
E0,5um、1.0um、3.0um、5.0um、10.0um、25.0um;
F 0.1μm,0.2μm,0.3μm,0.5μm,1.0μm,5.0μm;
1、粒徑分布誤差：≤±30
2、濃度示值誤差：≤±30
3、重復(fù)相對偏差：≤±10FS
4、重疊誤差：≤5
5、氣體檢測：可測氣體濃度（可選配）
6、溫度范圍：-40 ～ 120℃
7、檢定標(biāo)準(zhǔn)：ISO14644-1或 JJF1190
8、氣泵流速：2.83L/min，28.3L/min（可選）；
9、采樣時間：3、6、9、12、15、30、60秒（可選）；
10、檢測模式：數(shù)量模式；質(zhì)量模式； 凈效模式；
11、檢測方式：定時檢測、循環(huán)檢測可設(shè)置
12、報警方式：自定義數(shù)量報警值、質(zhì)量報警值
13、限值報警：RS485信號報警或外接聲光報警器
14、法 規(guī) 性：權(quán)限管控、審計追蹤、電子記錄等
15、合 規(guī) 性：符合ISO 21501-4，JIS B9921
16、通訊接口：RS232、R485、LAN-USB
17、多種探針可選。

產(chǎn)品配置
多功能探針 NO.UK4400301

2”直探針 NO.UK4400302

90°探針 NO.UK4400304