CS測試東莞市RS輻射抗干擾測試誠信的合作

　　為什么說絕大部分用電設(shè)備的損壞都與浪涌有關(guān)？

　　浪涌包括浪涌電壓和浪涌電流，即電壓或電流瞬間出現(xiàn)超出穩(wěn)定值的峰值。產(chǎn)生浪涌的主要原因有兩個：電力系統(tǒng)的開關(guān)瞬間和雷電產(chǎn)生瞬間。

　　對于處在雷電頻繁地區(qū)的項目，雷雨天氣是難熬的時候，即使不直接擊中，雷電通常能夠產(chǎn)生強(qiáng)大的電壓和脈沖電流，給設(shè)備帶來致命的沖擊，甚至造成性的破壞。

　　浪涌試驗的目的便是測試電氣和電子設(shè)備在遭受浪涌時的性能狀況，不同的設(shè)備和測試部位，測試方式與角度不盡相同，

　　ESD的測試方法類似FAB里面的GOI測試，pin之后先給他一個ESD電壓，持續(xù)一段時間后，然后再回來測試電性看看是否損壞，沒問題再去加一個step的ESD電壓再持續(xù)一段時間，再測電性，如此反復(fù)直至擊穿，此時的擊穿電壓為ESD擊穿的臨界電壓(ESD failure threshold Voltage)。通常我們都是給電路打三次電壓(3 zaps)，為了降低測試周期，通常起始電壓用標(biāo)準(zhǔn)電壓的70 ESD threshold，每個step可以根據(jù)需要自己調(diào)整50V或者100V。

　　EMI測試主要包含什么內(nèi)容?

　　Radiated Emission -輻射擾測試

　　Conducted Emission-傳導(dǎo)擾測試

　　Harmonic-諧波電流擾測試

　　Flicker-電壓變化與閃爍測試

　　我們?nèi)绾闻袛郋MS試驗結(jié)果的好壞呢？

　　對于 EMS（電磁敏感性）試驗，其性能判斷依據(jù)可分為四個等級：

　　A 級：試驗中性能指標(biāo)正常；

　　B 級：試驗中性能暫時降低，功能不喪失，試驗后能自行恢復(fù)；

　　C 級：功能允許喪失，但能自恢復(fù)，或操作者干預(yù)后能恢復(fù)；

　　R 級：除保護(hù)元件外，不允許出現(xiàn)因設(shè)備（元件）或軟件損壞或數(shù)據(jù)丟失而造成不能恢復(fù)的功能喪失或性能降低。