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| 產(chǎn)品參數(shù) | |||
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| 品牌 | Renishaw | ||
| 產(chǎn)品特性 | 直流供電 | ||
| 是否進口 | 否 | ||
| 加工定制 | 否 | ||
| 可售賣地 | 全國 | ||
| 型號 | RENISHAW光柵 | ||
什么是RGSZ20柵尺？
RGSZ20是一款由薄型柔性鋼帶制成的帶狀柵尺，柵距為20 μm，鋼帶經(jīng)過鍍金具有更高的反射率和 性，并具有用戶可選的IN-TRAC參考零位。可以使用背面自帶的UHV兼容不干膠將其安裝到金屬、陶瓷和合成材料等大多數(shù)工程材料上。RGSZ20可用柵尺端壓塊固定到基體上，并與基體的熱膨脹系數(shù)保持一致。柵尺成卷供貨，用戶可根據(jù)需要任意裁剪，可滿足長達50 m的軸長需要。?
什么是TONiC？
TONiC是雷尼紹推出的超小型非接觸式光柵系統(tǒng)，速度可達10 m/s，與Ti接口配套使用時，在線性和旋轉(zhuǎn)應用中分辨率達1 nm。由于安裝公差寬松，并且只需按下按鈕即可進行校準，因此TONiC系統(tǒng)的安裝快捷簡單。TONiC的動態(tài)信號處理功能可提高信號穩(wěn)定性，而且電子細分誤差 ，通常小于±30 nm，從而有助于實現(xiàn) 的運動控制性能。TONiC?UHV將增量式真空光柵技術引入低至10-10?Torr的 真空應用中，這類應用要求在緊湊的外形中保持
帶碼道選項的不銹鋼鋼帶
柵尺名稱 | 精度 | 柵距 | 20 °C時的熱膨脹系數(shù) | 供應長度 | 讀數(shù)頭兼容性 |
搭配可選FASTRACK?的RTLC20 | ±5 μm/m | 20 μm | 10.1 ±0.2 μm/m/°C | 長10 m（可根據(jù)要求提供10 m以上長度） | TONiC、TONiC UHV |
細窄型不銹鋼鋼帶柵尺
柵尺名稱 | 精度 | 柵距 | 熱膨脹系數(shù) | 供應長度 | 讀數(shù)頭兼容性 |
RKLC20-S | ±5 μm/m | 20 μm | 用端壓塊固定柵尺端部后，保持與基體材料膨脹系數(shù)一致 | 長20 m（可根據(jù)要求提供20 m以上長度） | TONiC、TONiC UHV |
ZeroMet?直線硬柵尺?
柵尺名稱 | 精度 | 柵距 | 20 °C時的熱膨脹系數(shù) | 供應長度 | 讀數(shù)頭兼容性 |
RELM20/RELE20 | 1 m內(nèi)為±1 μm，以后±1 μm/m | 20 μm | 0.75 ±0.35 μm/m/°C | 可達1.5 m | TONiC、TONiC UHV |
不銹鋼直線硬柵尺
柵尺名稱 | 精度 | 柵距 | 20 °C時的熱膨脹系數(shù) | 供應長度 | 讀數(shù)頭兼容性 |
RSLM20/RSLE20/RSLC20 | 1 m內(nèi)為±1.5 μm，2 m內(nèi)為±2.25 μm，3 m內(nèi)為±3 μm，5 m內(nèi)為±4 μm | 20 μm | 10.1 ±0.2 μm/m/°C | 可達5 m | TONiC、TONiC UHV |
鍍金鋼帶
柵尺名稱 | 精度 | 柵距 | 熱膨脹系數(shù) | 供應長度 | 讀數(shù)頭兼容性 |
RGSZ20/RGSN20 | ±15 μm/m | 20 μm | 使用端壓塊固定到基體，保持與基體相同的熱膨脹 | 可達50 m（如需50 m以上長度，請聯(lián)系雷尼紹） | TONiC、TONiC UHV |
不銹鋼圓光柵
柵尺名稱 | 刻劃精度（取決于圓光柵直徑） | 柵距 | 20 °C時的熱膨脹系數(shù) | 圓光柵直徑 | 讀數(shù)頭兼容性 |
RESM20/REST20 | ±3.97至±0.38角秒 | 20 μm | 15.5 ±0.5 μm/m/°C | 52至550 mm | TONiC、TONiC UHV |
超 不銹鋼圓光柵?
柵尺名稱 | 安裝精度（取決于圓光柵直徑） | 柵距 | 20 °C時的熱膨脹系數(shù) | 圓光柵直徑 | 讀數(shù)頭兼容性 |
REXM20/REXT20 | （≥100 mm直徑）±1角秒 | 20 μm | 15.5 ±0.5 μm/m/°C | 52至417 mm | TONiC、TONiC UHV |
優(yōu)點
柵尺長度按需裁剪， 長可達50 m
超小型光柵具有動態(tài)信號調(diào)節(jié)功能，可提高運動控制性能
抗污能力強
診斷組件用以協(xié)助完成復雜安裝并進行系統(tǒng)優(yōu)化
特性
讀數(shù)頭尺寸：35 x 13.5 x 10 mm
分辨率達1 nm
速度達10 m/s
模擬或數(shù)字輸出
電子細分誤差(SDE)：通常<±30 nm
可提供真空兼容型號
客戶可選的IN-TRAC?光學參考零位
技術規(guī)格
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